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张树文

作品数：4 被引量：3H指数：1
供职机构：江南计算技术研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇会议论文
  • 1篇期刊文章

领域

  • 4篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇电子产品
  • 1篇应力
  • 1篇生产过程
  • 1篇锁相
  • 1篇锁相环
  • 1篇子产
  • 1篇芯片
  • 1篇模拟锁相环
  • 1篇可靠性
  • 1篇集成电路
  • 1篇工艺生产
  • 1篇封装
  • 1篇高加速寿命试...
  • 1篇高速芯片
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体器件
  • 1篇DOE
  • 1篇HASS
  • 1篇产品质量

机构

  • 4篇江南计算技术...

作者

  • 4篇张树文
  • 2篇王剑
  • 2篇陆晔
  • 1篇邬宁彪
  • 1篇蒋炎河

传媒

  • 1篇电子质量
  • 1篇2006春季...

年份

  • 2篇2008
  • 1篇2006
  • 1篇2003
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
集成电路的可靠性再筛选被引量：3
2003年
本文介绍了器件可靠性筛选在集成电路生产过程和工艺生产上的重要性,提出了器件可靠性筛选的一些重要方法。
张树文
关键词：集成电路生产过程工艺生产产品质量半导体器件
模拟锁相环解码器SE567测试实现
作者在对模拟锁相环解码器SE567的构成和工作原理进行分析的基础上,提出了测试的解决方案,同时在ASL1000机台上实现并验证了测试方法和测试程序的有效可行性。
陆晔蒋炎河张树文
关键词：模拟锁相环
文献传递
应用DOE提升大尺寸封装高速芯片的机测良率
本文描述了一个应用DOE方法来大幅改善芯片机测良率的成功案例,包括要因分析、筛选要因、配置实验、实验结果解析及反馈等。
王剑陆晔张树文
关键词：DOE
文献传递
电子产品高加速寿命试验技术与方法
本文介绍了高加速寿命试验和高加速应力筛选试验的基本原理、特点、试验方法及试验步骤,对高加速寿命试验和高加速应力筛选试验的应用和前景进行了展望.
张树文王剑邬宁彪
关键词：电子产品高加速寿命试验HASS应力
文献传递
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