2024年11月29日
星期五
|
欢迎来到维普•公共文化服务平台
登录
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
崔昌明
作品数:
3
被引量:3
H指数:1
供职机构:
湖南大学信息科学与工程学院(软件学院)
更多>>
发文基金:
国家自然科学基金
更多>>
相关领域:
自动化与计算机技术
电子电信
更多>>
合作作者
蔡烁
湖南大学信息科学与工程学院软件...
邝继顺
湖南大学信息科学与工程学院软件...
作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
2篇
期刊文章
1篇
学位论文
领域
2篇
自动化与计算...
1篇
电子电信
主题
3篇
电流测试
3篇
瞬态电流
3篇
瞬态电流测试
2篇
电路
2篇
数字电路
1篇
电路测试
1篇
时延故障
1篇
数字电路测试
1篇
瞬态
1篇
可测试性
1篇
可测试性设计
1篇
集成电路
1篇
PSPICE...
1篇
DDT
1篇
测试性
1篇
测试性设计
1篇
超大规模集成
1篇
超大规模集成...
1篇
大规模集成电...
1篇
I
机构
3篇
湖南大学
作者
3篇
崔昌明
2篇
邝继顺
2篇
蔡烁
传媒
1篇
微电子学与计...
1篇
微处理机
年份
3篇
2007
共
3
条 记 录,以下是 1-3
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
数字电路冗余故障检测方法研究及实验分析
随着集成电路设计与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路的测试成为一个越来越困难的问题,测试和可测试性设计的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向,在理论和实践方面都有十分突出的价值。 目前工业界普遍...
崔昌明
关键词:
数字电路测试
瞬态电流测试
超大规模集成电路
可测试性设计
文献传递
一种基于I_(DDT)测试的时延故障测试产生算法
被引量:1
2007年
瞬态电流测试(IDDT Testing)作为传统电压测试和稳态电流测试(IDDQ Testing)方法的一个补充,越来越受到研究领域和工业界的关注。针对不同的故障类型,基于瞬态电流测试的测试方法也有所不同。这里提出了一种关于时延故障的测试产生算法,该算法利用3个向量来激活时延故障。实验结果表明该测试产生算法用于检测时延故障是可行的。
蔡烁
邝继顺
崔昌明
关键词:
瞬态电流测试
时延故障
PSPICE模拟
一种检测冗余故障的瞬态电流测试方法
被引量:2
2007年
数字电路中的冗余故障是不能被传统的电压测试方法(VoltageTesting)和稳态电流测试方法(IDDQTest-ing)检测出来的。根据瞬态电流测试(IDDQTesting)的思想,提出一种检测冗余故障的方法,该方法利用扇出重汇聚结构当中从扇出点到重汇聚点的不同路径的延迟差,在重汇聚点形成冒险,以激活故障并进行传播。实验表明,此方法能够有效地检测冗余故障。
崔昌明
邝继顺
蔡烁
关键词:
数字电路
瞬态电流测试
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张