刘曦
- 作品数:8 被引量:11H指数:2
- 供职机构:兰州大学更多>>
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- 相关领域:理学一般工业技术更多>>
- 一种软磁薄膜及制备方法
- 本发明公开一种用于磁记录的写磁头的磁性薄膜材料及这种材料的制备方法。本发明的软磁薄膜材料是在基层材料上有包括铁钴成份的磁性薄膜,其中薄膜的铁钴磁性成份中掺杂有质量比大于零、小于或等于5%的铝、氧和碳元素。本发明的制备方法...
- 王璇郑富刘曦刘朝阳魏福林
- 文献传递
- GMR读磁头用面内取向CoCrPt永磁薄膜的结构与性能被引量:2
- 2008年
- 用磁控溅射的方法在Cr1-xWx衬底上制备了GMR读磁头中用来提供水平偏置磁场的易轴水平取向的CoCrPt合金薄膜。研究了Cr1-xWx衬底(200)织构与W含量之间的关系,沉积在CrW衬底上的CoCrPt合金薄膜微结构及磁性能,以及CoCr中间层的添加对CoCrPt合金薄膜生长出面内取向的(1120)织构的影响及磁性能的影响。实验结果表明,CoCr中间层的引入对CoCrPt合金薄膜易磁化轴的面内取向起到了十分关键的作用。
- 李松田刘曦史文魁曹江伟魏福林
- 关键词:织构磁性能
- 界面对Fe_(65)Co_(35)薄膜微结构和软磁性的影响被引量:4
- 2009年
- 用不同的材料(Co93Fe7和Fe)作衬底层,利用磁控溅射法成功制备了Fe65Co35(主层)/衬底层结构的双层薄膜.通过X射线衍射和磁性测量发现,在不同的衬底上沉积的Fe65Co35薄膜的织构不同,并且(200)取向的Fe65Co35薄膜的面内各向异性和软磁性优于(110)取向的Fe65Co35薄膜.通过典型样品的穆斯堡尔谱分析发现,Fe65Co35薄膜的磁化强度矢量具有一定的垂直分量,并且当Fe65Co35薄膜为(110)取向时磁化强度矢量的垂直分量比(200)取向时要大.进一步的研究发现,这种现象是由Fe65Co35薄膜与衬底层接触界面上应力诱导的界面各向异性导致的.
- 李彦波刘曦李正华付煜阿·谢·卡姆津魏福林杨正
- 关键词:界面各向异性
- 磁场对模板法制备的Co纳米线结构和磁性的影响
- 2009年
- 在用二次氧化法制备的高度有序的氧化铝模板上通过交流电化学方法制备了Co纳米线阵列.研究了外加磁场及电解液pH值对纳米线生长的影响.在pH值为6.0和6.5的电解液中分别在不加磁场和沿纳米线轴向施加0.3T磁场情况下制备了hcp结构的Co纳米线阵列.实验数据表明,沉积时外加磁场和调节pH值能有效影响纳米线中hcp结构的Co晶粒的易磁化轴沿纳米线长轴方向生长.由于晶粒的磁晶各向异性和纳米线沿长度方向的宏观形状各向异性叠加,制备的Co纳米线阵列具有高垂直各向异性,高矫顽力和较高矩形比.
- 刘文邦孟卫民娄元付刘曦张璐然郑新奇魏福林
- 关键词:织构磁性
- 一种软磁薄膜及制备方法
- 本发明公开一种用于磁记录的写磁头的磁性薄膜材料及这种材料的制备方法。本发明的软磁薄膜材料是在基层材料上有包括铁钴成份的磁性薄膜,其中薄膜的铁钴磁性成份中掺杂有质量比大于零、小于或等于5%的铝、氧和碳元素。本发明的制备方法...
- 王璇郑富刘曦刘朝阳魏福林
- 文献传递
- 超高密度磁记录磁头用薄膜材料的研究
- 磁记录存储系统中通常使用复合磁头,它包含两部分:一是写入信息的软磁薄膜写磁头,另一个是读取信息的GMR读磁头。这两部分性能的优劣直接影响磁记录系统的记录性能。本论文主要以下对三部分进行了研究:一是GMR读磁头用水平取向C...
- 刘曦
- 基片对交替溅射制备的MnZn铁氧体薄膜结构和磁性的影响被引量:3
- 2009年
- 使用成分分别为MnFe2O4和ZnFe2O4的靶,使用射频溅射交替沉积制备了成分不同的Mn1-xZnxFe2O4薄膜,沉积薄膜所用基片分别为单晶硅Si(100),氧化的单晶硅SiO2/Si(100),ZnFe2O4为衬底的单晶硅ZnFe2O4/Si(100)及单晶氧化镁MgO(100),沉积态的薄膜为非晶结构,经550℃真空退火后可以得到MnZn多晶铁氧体薄膜.成分为Mn0.5Zn0.5Fe2O4的薄膜呈现了较好的磁性:相对高的Ms及低的Hc.以MgO(100)为基片薄膜的矫顽力最低,约为2148A/m.对基片材料对薄膜磁性的影响作了分析.认为铁氧体薄膜中应力导致的磁弹性各向异性对薄膜的矫顽力起着主导作用,选用合适的基片可使薄膜中晶粒细化至纳米尺度,晶粒间增强的交换耦合作用可对薄膜中的磁弹性各向异性做有效平均并使其降低,从而使MnZn铁氧体薄膜的软磁特性得到改善.
- 张弘刘曦王兰喜曹江伟刘小晰魏福林
- 关键词:MNZN铁氧体纳米晶磁性薄膜
- 交替溅射法制备BaM铁氧体薄膜的特性研究被引量:1
- 2009年
- 以双靶射频溅射和交替沉积的方法制备了不同化学组成的BaM铁氧体薄膜。对所沉积的薄膜进行了两种不同方式的热处理。通过热处理后铁氧体薄膜的X射线衍射(XRD),逆转换电子穆斯堡尔谱(CEMS)及原子力显微镜(AFM)等微观结构的分析和宏观磁性的测试,结果表明两步骤退火过程对于垂直取向结构的形成是有利的。
- 张弘刘曦刘小晰魏福林A.S.Kamzin贺德衍
- 关键词:钡铁氧体薄膜穆斯堡尔谱