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文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 2篇电路
  • 2篇电路技术
  • 2篇集成电路
  • 2篇集成电路技术
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子效应
  • 1篇阵列
  • 1篇数据处理
  • 1篇现场可编程
  • 1篇现场可编程门...
  • 1篇粒子源
  • 1篇门阵列
  • 1篇开关
  • 1篇开关结构
  • 1篇可编程门阵列
  • 1篇缓冲器
  • 1篇封装
  • 1篇封装外壳
  • 1篇FPGA
  • 1篇布线

机构

  • 2篇华微电子系统...

作者

  • 2篇郑博文
  • 2篇黄国辉
  • 1篇丛伟林
  • 1篇李平
  • 1篇李文昌
  • 1篇杨志明
  • 1篇李威

年份

  • 2篇2009
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
FPGA布线可编程开关结构
FPGA布线可编程开关结构,涉及集成电路技术。本发明包括配置电路、第一SRAM和MOS开关,MOS开关连接点(L1)和(L2),其特征在于,还包括与MOS开关并联的缓冲器电路,缓冲器电路一端接点(L1),另一端接点(L2...
李平黄国辉丛伟林郑博文苏世碧李文昌
文献传递
现场可编程门阵列单粒子效应测试方法
现场可编程门阵列单粒子效应测试方法,涉及集成电路技术。本发明包括下述步骤:1)去除FPGA封装外壳,将其安装在测试电路板上;2)配置FPGA,然后回读SRAM数据并记录;3)将测试电路板置于测试室内,粒子源发射单粒子轰击...
李威黄国辉杨志明孙振维郑博文
文献传递
共1页<1>
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