您的位置: 专家智库 > >

邬绍轶

作品数:1 被引量:2H指数:1
供职机构:电子科技大学物理电子学院应用物理系更多>>
发文基金:教育部留学回国人员科研启动基金更多>>
相关领域:理学机械工程化学工程更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇化学工程
  • 1篇机械工程
  • 1篇理学

主题

  • 1篇单晶
  • 1篇荧光
  • 1篇荧光光谱
  • 1篇吸收光谱
  • 1篇离子注入
  • 1篇光谱
  • 1篇XPS
  • 1篇AL2O3

机构

  • 1篇电子科技大学
  • 1篇四川大学
  • 1篇中国科学院

作者

  • 1篇邬绍轶
  • 1篇霍永忠
  • 1篇曾光廷
  • 1篇王治国
  • 1篇祖小涛
  • 1篇鲍军委
  • 1篇向霞

传媒

  • 1篇四川大学学报...

年份

  • 1篇2003
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
Ni^+离子注入单晶氧化铝的光学性能研究被引量:2
2003年
4种不同掺杂的单晶α-Al2O3在注入能量为64keV、剂量为1×1017cm-2的Ni+离子后颜色变灰,透明度下降,未掺杂无色样品在900℃的空气中退火2h后,灰色褪去,呈现淡黄色,透明度增加。XPS测试结果表明,注入单晶中的Ni+离子主要以Ni0存在,样品颜色变灰很可能与单质Ni0的存在有关。空气中退火后Ni0被氧化成Ni2+,但氧化层较薄。吸收光谱测试结果表明,无色样品注入Ni+离子后,在峰值为400nm位置出现了一个由Ni2+离子的3A2→3T1(F)跃迁产生的宽吸收带;其余3种有色样品中由于Ni2+的吸收与Cr3+离子在紫光区的吸收带重叠,故观察不到新的吸收带。荧光光谱测试没有观察到注入的Ni+离子对样品发光的影响,与Ni+离子主要以Ni0存在有关。
向霞曾光廷鲍军委霍永忠邬绍轶王治国祖小涛
关键词:离子注入XPS吸收光谱荧光光谱
共1页<1>
聚类工具0