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王心磊

作品数:5 被引量:24H指数:2
供职机构:中国科学院上海硅酸盐研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学化学工程更多>>

文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 4篇理学
  • 1篇化学工程

主题

  • 2篇低能
  • 2篇低能电子
  • 2篇MONTE_...
  • 1篇弹性散射
  • 1篇弹性散射截面
  • 1篇电子散射
  • 1篇硬化体
  • 1篇散射
  • 1篇散射截面
  • 1篇散射理论
  • 1篇射线
  • 1篇水泥
  • 1篇随机方法求积
  • 1篇显微结构
  • 1篇氯镁水泥
  • 1篇镁水泥
  • 1篇蒙特卡罗法
  • 1篇计算方法
  • 1篇厚度
  • 1篇分波

机构

  • 5篇中国科学院
  • 2篇山东工业大学
  • 1篇上海市计算技...

作者

  • 5篇王心磊
  • 4篇何延才
  • 2篇谭震宇
  • 1篇黄月鸿
  • 1篇余金梁
  • 1篇王佩玲
  • 1篇胡幼华

传媒

  • 3篇中国科学(A...
  • 1篇无机材料学报
  • 1篇计算物理

年份

  • 1篇1991
  • 3篇1990
  • 1篇1989
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
应用分波法计算低能电子弹性散射截面被引量:1
1991年
基于Pendry的工作,建立一个应用量子力学分波法计算低能电子弹性散射截面的方法,该方法采取Hartree近似和Hartree-Fock近似相结合,既节省计算机时又能将Pendry的算法延伸到keV以上能区。计算了元素Be、C、Al、Cu等的弹性散射截面,并与Screen-Rutherford截面进行比较。本文方法已用于低能电子散射研究中。文中给出计算程序框图。
谭震宇裘培勇何延才王心磊
关键词:分波法随机方法求积
Monte Carlo方法计算多层薄膜中X射线发射强度被引量:1
1989年
基于作者发展的电子散射模型,多层介质中电子散射理论、X射线强度、吸收和荧光计算公式,用Monte Carlo方法计算了多层薄膜中X射线发射强度比值。在不同加速电压下,对Si衬底上Au,Cu多层膜及Cr,Ni多层膜计算的强度比与EPMA实验结果广泛一致。本工作为最终解决多层薄膜X射线定量显微分析的难题奠定了理论基础。
何延才胡幼华陈家光王心磊
关键词:X射线蒙特卡罗法
氯镁水泥硬化体的显微结构及结构强度被引量:19
1990年
使用 Philips SEM 505型扫描电子显微镜观察了氯镁水泥硬化体中水化产物的形态及不同活性 MgO配制的氯镁水泥水化产物的生长,研究了 MgO 的活性及不同水灰比对氯镁水泥浆体硬化过程中结构强度发展的影响。结果表明,硬化体中水化产物至少有三种不同的存在形态;MgO 的活性影响水化产物的发育及结晶结构网的形成;在氯镁水泥浆体结构发展过程中,对于过饱和度较高的液相,提高水灰比会引起结构强度的下降;当硬化体中存在结晶应力时,适当提高水灰比对结构强度的发展有利。
王佩玲王心磊黄月鸿余金梁
关键词:氯镁水泥显微结构
多层簿膜厚度XQMA测定及Monte Carlo计算方法被引量:1
1990年
本文提出了应用X射线显微分析实验及Monte Carlo模拟计算电子散射、X射线激发来确定多层薄膜样品每一层厚度的方法.在几种加速电压下,对不同组成、不同厚度的多层膜进行了测定,所得结果与核背散法测定值一致.相对误差小于10%.文中给出了计算程序流程图.
何延才陈家光王心磊马业明
关键词:厚度电子散射
低能电子在固体中散射理论及Monte Carlo模拟计算方法被引量:2
1990年
本文应用较严格的理论描述低能电子在固体中散射的过程,提出了对该过程进行直接模拟的计算方法:经作者改进的Pendry分波法模型计算电子与原子间的弹性散射;非弹性散射既考虑壳层电子、导带电子贡献,也计入等离子激发的影响;电子散射及二次电子级联过程用Monte Carlo方法严格模拟,对不同能量低能电子作用下,Cu的二次电子产额、能谱曲线及背散射系数作了计算,所得结果与Kashikawa等的实验事实一致。
何延才谭震宇王心磊
关键词:低能电子散射
共1页<1>
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