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孙泽明: 作品数：76 被引量：72H指数：5; 供职机构：北京有色金属研究总院更多>>; 发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划国家科技支撑计划更多>>; 相关领域：金属学及工艺一般工业技术理学冶金工程更多>>

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镁合金化学分析用多元素标准溶液及其配制方法: 一种镁合金化学分析用多元素标准溶液极其配制方法，该标准溶液由至少5组不同浓度的含基体元素和被测杂质元素以及酸性介质的溶液组成；其中，基体元素为Mg；被测杂质元素为Al、Mn、Nd、Y、Zn和Zr；酸性介质为体积分数5％的...; 高燕张英新臧慕文刘英孙泽明徐锁平龙沛; 文献传递

显微硬度计计算机测控系统: 本发明公开了一种显微硬度计计算机测控系统，它是由显微硬度计、样品自动台、计算机图象采集卡、I/O控制卡和计算机构成，显微硬度计的照相或摄像接口上接装CCD摄像头，摄像头的视频输出通过视频信号线接到计算机视频采集卡的输入端...; 孙泽明张金波王福生; 文献传递

超高纯石墨粉中痕量杂质的发射光谱分析方法: 本发明涉及一种超高纯石墨粉中痕量杂质的发射光谱分析方法。该方法包括如下步骤：(1)不完全燃烧：称取超高纯石墨粉样品，置于石英坩埚中，将石英坩埚放置马弗炉中，燃烧以逐渐除去石墨基体至余量，停止燃烧，冷却后取出，准确称量燃烧...; 潘元海孙泽明墨淑敏王长华韩维儒李继东周海收张佳凯; 文献传递

一种钢铁材料表面纳米化的方法: 本发明公开了属于钢铁材料表面纳米化技术领域的一种钢铁材料表面纳米化的方法。采用去除材料的方式将待处理工件表面粗糙化，使表面粗糙度Ra控制在6.0～7.0μm之间；将经表面粗糙化的待处理工件安装于机床主轴上，采用超声波表面...; 朱其芳孙泽明马通达樊志罡王福生张东晖; 文献传递

共沉淀法净化铟电解液的研究被引量：3: 2011年; 对铟电解液的净化方法进行了研究,提出硫酸钡共沉淀的净化方法。研究表明,最佳的净化条件为:以BaCl2为沉淀剂,在适中的搅拌状态下,将BaCl2溶液逐滴滴入经硫酸酸化过的铟电解液中,BaCl2用量控制在每升铟电解液中加入15～30g氯化钡,反应温度控制在30～50℃之间。; 于丽敏蒋文全傅钟臻郭荣贵李涛孙海峰孙泽明; 关键词：铟电解液硫酸钡共沉淀

7B04高强铝合金中夹杂的断裂效应: 本文用介观力学的研究手段，研究了7B04高强高韧铝合金的塑性变形，旋转量场和断裂行为。7B04合金中有害杂质相，几何尺寸约为30-50微米之间的富铁相。该相的金相形貌为几个有棱角边界的颗粒团簇在一起，或是单独分散在基体材...; 朱其芳孙泽明张智慧李志辉; 关键词：高强铝合金塑性变形; 文献传递

纳米晶、亚微米微晶2009铝合金塑性形变的波动特性: 2006年; 纳米晶、亚微米微晶2009铝合金塑性形变试样上各点的应变量是不相同的，并且呈波动性变化，随着外加载荷的增加而波动的幅度增加，表明在拉伸过程中，其应力传播和剪切变形传播在三维方向都具有波动特性。形成峰值与材料缺陷造成应力集中有关，实验结果表明纳米晶、亚微米微晶2009铝合金材料的塑性变形的流动行为的波动特性和非均匀特性，证明了介观力学提出的观点。即材料进入塑性变形后，晶粒群将进入平移-转动涡流，将材料的初始结构层次（包括晶粒、晶界、晶群以及试样整体）全部纳入变形范畴。; 朱其芳孙泽明王福生张金波邵贝羚刘安生姚伟; 关键词：纳米晶塑性形变

离子色谱痕量分析标准溶液及其配制方法: 一种离子色谱痕量分析标准溶液及其配制方法，该标准溶液由基准物质和去离子水配制而成，其中所述基准物质为ClO2-、ClO3-、ClO<...; 徐锁平张英新臧慕文刘英孙泽明高燕龙沛; 文献传递

一种铝合金材料表面纳米化处理方法: 本发明涉及一种铝合金材料表面纳米化处理方法，其步骤如下：首先将超声波表面强化处理装置垂直对准处理工件表面；然后接通电源，打开超声波表面强化处理装置，使所述超声波表面强化处理装置针对待处理工件机械动力密排等距，等速行走，对...; 朱其芳孙泽明王福生张东晖朱宝宏熊柏青; 文献传递

GD-MS用高纯钼成分分析质量控制样品的研制被引量：2: 2022年; 辉光放电质谱(GD-MS)是目前常用的高纯金属化学成分检测手段之一,然而使用GD-MS对高纯金属中的杂质含量进行定量分析时,需要与基体匹配的成分分析质控样品对相对灵敏度因子(RSF)进行校正。以钼酸铵和金属盐溶液为原料,采用液相掺杂,搅拌加热,蒸发结晶的方法得到掺杂钼酸铵。经氢化还原后,采用机械搅拌方式进一步进行均匀化处理,成功制备了GD-MS用高纯钼成分分析质控样品。考察了制备过程中均匀化处理时间对样品粒度分布,微观形貌及对样品杂质含量均匀性的影响。使用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)对本质控样品进行检测,经方差齐性检验,质控样品中杂质元素的含量均匀性达标。使用本质控样品对高纯钼中的Al,Fe,Cr,Co,Ni,Sb,Hf等7种元素的GD-MSRSF值进行校正,用于高纯钼样品检测。经平均值一致性检验,GD-MS测定值与ICP-MS测定结果一致。方法的相对标准偏差(RSD)为0.53%~2.26%。; 王焕文陈雄飞孙泽明孙泽明童坚; 关键词：辉光放电质谱均匀化质控样品