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赵洪深

作品数:9 被引量:23H指数:4
供职机构:中国科学院光电技术研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信机械工程自动化与计算机技术理学更多>>

文献类型

  • 5篇期刊文章
  • 4篇专利

领域

  • 2篇机械工程
  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇理学

主题

  • 4篇面形
  • 4篇光学
  • 3篇数据采集
  • 2篇电机
  • 2篇顶针
  • 2篇阵列
  • 2篇伺服
  • 2篇伺服电机
  • 2篇面形精度
  • 2篇母板
  • 2篇架子
  • 2篇光学加工
  • 2篇光学元件
  • 2篇仿真计算
  • 2篇感器
  • 2篇传感
  • 2篇传感器
  • 2篇传感器数据
  • 2篇传感器数据采...
  • 2篇传感器阵列

机构

  • 9篇中国科学院
  • 2篇中国科学院大...
  • 1篇四川大学
  • 1篇中国科学院研...

作者

  • 9篇赵洪深
  • 7篇李晓今
  • 4篇范斌
  • 2篇曾志革
  • 2篇王佳
  • 2篇高平起
  • 2篇周家斌
  • 2篇万勇健
  • 2篇刘海涛
  • 2篇刘容
  • 1篇余德平
  • 1篇万勇建

传媒

  • 2篇光电工程
  • 2篇现代电子技术
  • 1篇强激光与粒子...

年份

  • 1篇2018
  • 2篇2017
  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 4篇2013
9 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
一种基于FPGA的能动磨盘动态面形采集系统及方法
本发明公布了一种基于FPGA的能动磨盘动态面形采集系统及方法,由传感器阵列、采集电路板、上位机电脑构成,其中采集电路版包括多片基于FPGA采集的子板、一片基于FPGA和USB通信的母板。各子板独立负责若干路传感器数据采集...
赵洪深李晓今范斌曾志革周家斌
文献传递
基于FPGA的多路光栅信号并行采集方法被引量:6
2013年
FPGA在信号采集中时钟频率高,内部延时小,控制逻辑由硬件完成,同时可以集成外围控制、译码和接口电路,具有速度快、组织灵活等优势。在需要测量较大面积的动态变化面形并采集大量光栅尺信号时,可以使用FPGA数据采集系统对光栅信号进行采集。在保证采样精度的前提下,为了降低成本和系统复杂度,可以在采集系统中使用多路选择技术。提出了一种基于FPGA和多路选择技术的光栅信号采集方法,使用I/O口相对较少的低端FPGA,配合多路选择开关,通过内部处理,实现了多路光栅信号的采集,结果表明,该法成本低廉且能满足精度的要求。
赵洪深刘容李晓今
关键词:光栅信号数据采集FPGA
能动磨盘变形检测中的各误差因素分析
2013年
针对现有Ф530mm能动磨盘的检测系统(有效检测口径Ф420mm),系统分析了检测过程中的球头误差、传感器安装角度误差和坐标定位误差,并给出了各项误差对检测精度的影响。同时,还针对检测基座不完全水平的问题建立模型,应用最小二乘法实现了检测数据的去倾斜处理。给出了实测数据去倾斜前后和误差补偿前后的检测精度对比情况,结果表明去倾斜算法能较好地还原实测数据,补偿检测中的系统误差有助于提高检测精度。
赵洪深李晓今曾志革
关键词:误差分析误差补偿
基于变压力的CCOS光学研抛技术被引量:4
2018年
在非球面及自由曲面加工中,应用最为成熟的是计算机控制光学表面成型(CCOS)技术。现有CCOS技术普遍采用恒压力研抛方法,加工过程中研抛压力保持恒压,通过控制驻留时间实现所需的去除量。本文研究了基于变压力的CCOS研抛方法,增加了调控维度,通过同时控制研抛压力和驻留时间实现所需的去除量。首先,对该方法建立了加工控制的数学模型。然后,测量分析了磨头输出力的稳定性和响应速度,去除函数的稳定性。最终,在K9材料平面镜上开展了正弦压力抛光的材料去除实验。结果表明,实测与理想正弦研抛压力周期一致,力误差标准差约为0.35 N,对去除面形PV和RMS的影响均不到9%;实际与仿真加工的面形轮廓周期一致,加工区域的面形误差在17%以内。本文实现了变压力研抛,验证了基于变压力的CCOS研抛方法在光学加工中的有效性。
叶枫菲余德平万勇建刘海涛赵洪深
关键词:光学加工变压力研抛
光学加工机器人定位误差测量与分析被引量:8
2017年
基于工业机器人的高灵活度光学加工系统可以加工大型或形状复杂的工件。但是,机器人自身定位误差特性会引起磨盘在工件表面上的定位精度降低,从而导致加工精度和加工效率的下降。本文研究了减小定位误差的方法并在仿真和光学加工实验中进行了验证。首先用API T3激光跟踪仪实时测出固定在机械臂末端的抛光工具在工作区域内的定位误差,以此为基础对驻留点进行误差补偿。实验测量结果表明,通过补偿后抛光工具的定位精度达到了光学精密加工的要求。通过仿真,计算了误差补偿前后磨盘的定位误差引起的驻留时间误差及去除量误差。结果表明,补偿之后,80%口径内去除量误差由整体去除量的3.68%降低至0.90%。最后,通过抛光实验验证了,经过位置误差的补偿并重新规划加工轨迹后,有效提高了加工效率,磨削量控制更精确。
韩哈斯额尔敦曾志革刘海涛赵洪深
关键词:抛光
一种基于FPGA的能动磨盘动态面形采集系统及方法
本发明公布了一种基于FPGA的能动磨盘动态面形采集系统及方法,由传感器阵列、采集电路板、上位机电脑构成,其中采集电路版包括多片基于FPGA采集的子板、一片基于FPGA和USB通信的母板。各子板独立负责若干路传感器数据采集...
赵洪深李晓今范斌曾志革周家斌
文献传递
一种摆架式主动磨盘加工大口径光学元件的装置
本发明公开了一种摆架式主动磨盘加工大口径光学元件的装置,基于摆架式传统古典法加工原理的基础上,对摆架顶针进行了相关改造,该装置包括计算机系统及电控机构、支撑架子、传动轴、45度齿轮、摆架顶针轴、磨盘;计算机系统与电控机构...
卓彬高平起范斌万勇健张久臣赵洪深李晓今王佳
一种摆架式主动磨盘加工大口径光学元件的装置
本发明公开了一种摆架式主动磨盘加工大口径光学元件的装置,基于摆架式传统古典法加工原理的基础上,对摆架顶针进行了相关改造,该装置包括计算机系统及电控机构、支撑架子、传动轴、45度齿轮、摆架顶针轴、磨盘;计算机系统与电控机构...
卓彬高平起范斌万勇健张久臣赵洪深李晓今王佳
文献传递
基于改进型选择进位加法器的32位浮点乘法器设计被引量:5
2013年
在修正型Booth算法和Wallace树结构以及选择进位加法器的基础上,提出了一种新型32位单精度浮点乘法器结构。该新型结构通过截断选择进位加法器进位链,缩短了关键路径延时。传统选择进位加法器每一级加法器的进位选择来自上级的进位输出。提出的结构可以提前计算出尾数第16位的结果,它与Wallace树输出的相关位比较就可得出来自前一位的进位情况进而快速得到进位选择。在Altera的EP2C70F896C6器件上,基于该结构实现了一个支持IEEE754浮点标准的4级流水线浮点乘法器,时序仿真表明,该方法将传统浮点乘法器结构关键路径延时由6.4 ns减小到5.9 ns。
刘容赵洪深李晓今
关键词:浮点乘法器
共1页<1>
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