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文献类型

  • 3篇期刊文章
  • 2篇科技成果

领域

  • 5篇电子电信

主题

  • 2篇封装
  • 2篇
  • 1篇堆叠
  • 1篇多芯片
  • 1篇引线
  • 1篇引线框
  • 1篇引线框架
  • 1篇双芯片
  • 1篇热性能
  • 1篇芯片
  • 1篇离层
  • 1篇可靠性
  • 1篇键合
  • 1篇仿真
  • 1篇封装工艺
  • 1篇T形
  • 1篇BGA

机构

  • 5篇天水华天科技...
  • 1篇华天科技(西...

作者

  • 5篇温莉珺
  • 2篇慕蔚
  • 2篇周建国
  • 2篇李习周
  • 2篇王立国
  • 1篇周朝峰
  • 1篇代赋
  • 1篇刘定斌
  • 1篇王永忠
  • 1篇王治文
  • 1篇成军
  • 1篇安飞
  • 1篇王婷
  • 1篇刘志强
  • 1篇徐冬梅
  • 1篇费智霞
  • 1篇雷育恒
  • 1篇张胡军
  • 1篇刘殿龙
  • 1篇赵耀军

传媒

  • 2篇电子工业专用...
  • 1篇电子与封装

年份

  • 2篇2017
  • 1篇2014
  • 2篇2013
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
裸铜框架铜线键合封装技术研究
2017年
对裸铜框架铜线键合封装的关键工艺进行了系统研究,通过选择合适的裸铜框架、分段烘烤方式、全密封轨道焊线机防氧化以及工序间时间间隔控制,实现铜-铜键合关键技术,这一研究结果为更多封装形式的裸铜框架实现铜线键合提供技术指导。
温莉珺
裸铜框架铜线键合封装技术的研发
刘殿龙李习周温莉珺安飞张进兵张胡军焦建斌张易勒周建国慕蔚杨文杰王立国刘志强
该项目的创新点是:1.引线框架由镀银改为镀铜,防止了银迁移现象造成的产品短路,降低了封装成本(降低2%~5%);2.采用引线框架防氧化处理、上芯防氧化技术和改进的装片胶铜-铜键合工艺,并通过工艺试验确定了镀铜厚度(≥1....
关键词:
关键词:引线框架封装工艺
多芯片堆叠(3D)封装技术研发
李习周徐冬梅慕蔚王永忠刘定斌王治文赵耀军周朝峰雷育恒温莉珺周建国成军代赋王婷王立国
本项目的创新点是:1、开发了50μm~75μm超薄12吋晶圆减薄划片技术;2、采用多层(3层及其以上)金字塔式、悬梁式和隔片式堆叠技术,实现二次集成,缩小了电路面积;3、开发了基于叠层芯片的超低弧度内丝焊(单侧内丝焊、双...
关键词:
关键词:封装
BGA热性能仿真优化分析方法研究
2013年
随着科技的进步,电子设备也向着集成度更高、功率更大、可靠性要求更严格的方向发展。高温引起的电子设备失效作为最常见的失效原因之一,也越来越引起设计者的重视。通过常规的制备样品反复试验的方法耗时耗力,而采用仿真模拟的办法就能很好地解决问题。文章从使用高导热封装材料、添加散热盖和改善封装结构等方面,应用仿真模拟的手段来比较各种优化设计的改善程度,在散热优化方面为今后的BGA设计提供了参考。
马晓波谌世广王希有温莉珺
关键词:仿真BGA
TO252封装产品可靠性改善研究
2017年
在共模的条件下,TO252单基岛-双芯片封装产品因为粘片胶烘烤产生的挥发物质相互扩散造成框架/芯片沾污,及引线框架与塑封料之间的包容强度不够,容易发生离层现象;研究通过优化框架结构,在TO252引线框架基岛中部加"T"形孔,显著提高了产品的可靠性,其结果为单基岛双芯片封装产品的可靠性提升提供优化指导。
温莉珺费智霞
关键词:离层
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