2024年12月15日
星期日
|
欢迎来到维普•公共文化服务平台
登录
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
李莉
作品数:
2
被引量:1
H指数:1
供职机构:
中国科学院上海微系统与信息技术研究所
更多>>
发文基金:
国家高技术研究发展计划
更多>>
相关领域:
电子电信
更多>>
合作作者
吴艳红
中国科学院上海微系统与信息技术...
王跃林
中国科学院上海微系统与信息技术...
王立春
中国科学院上海微系统与信息技术...
罗乐
中国科学院上海微系统与信息技术...
焦继伟
中国科学院上海微系统与信息技术...
作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
1篇
期刊文章
1篇
学位论文
领域
2篇
电子电信
主题
2篇
等温凝固
2篇
凝固
2篇
SN
1篇
等温
1篇
凝固技术
1篇
气密封装
1篇
晶圆
1篇
晶圆级封装
1篇
键合
1篇
键合技术
1篇
封装
1篇
CU
1篇
MEMS
机构
2篇
中国科学院
作者
2篇
李莉
1篇
焦继伟
1篇
罗乐
1篇
王立春
1篇
王跃林
1篇
吴艳红
传媒
1篇
固体电子学研...
年份
1篇
2007
1篇
2006
共
2
条 记 录,以下是 1-2
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
Cu/Sn等温凝固技术在MEMS气密封装中的应用
被引量:1
2007年
研究了Cu/Sn等温凝固键合技术在MEMS气密性封装中的应用。设计了等温凝固键合多层材料的结构和密封环图形,优化了键合工艺,对影响气密性的因素(如密封环尺寸等)进行了分析。在350。C实现了良好的键合效果,其最大剪切强度达到27.7MPa,漏率~2×10^-4Pa·cm^3/s He,完全可以满足美国军方标准(MIL—STD-883E)的要求,验证了Cu/Sn等温凝固键合技术在MEMS气密封装中的适用性。
李莉
焦继伟
王立春
吴艳红
罗乐
王跃林
关键词:
等温凝固
气密封装
晶圆级封装
Cu/Sn等温凝固键合技术在MEMS圆片级气密封装中的应用
随着MEMS技术发展和商业化进程的推进,MEMS封装成为关键问题之一,尤其是低成本和高可靠性的圆片级气密封装技术尚不能够完全满足应用要求。MEMS圆片级气密封装不仅能防止外部环境对内部器件的污染,还能防止划片工艺对MEM...
李莉
文献传递
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张