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施洪钧

作品数：9 被引量：25H指数：3
供职机构：中国科学院物理研究所更多>>
相关领域：理学化学工程机械工程一般工业技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 7篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 6篇理学
  • 1篇化学工程
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇机械工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 6篇ICP-AE...
  • 4篇光谱
  • 4篇ICP-AE...
  • 3篇晶体
  • 3篇ICP-AE...
  • 2篇等离子体
  • 2篇电感耦合
  • 2篇氧化锂
  • 2篇氢氧化锂
  • 2篇氯化锂
  • 2篇发射光谱
  • 2篇钡
  • 2篇CID
  • 2篇ICP
  • 1篇带隙
  • 1篇等离子体发射
  • 1篇等离子体发射...
  • 1篇等离子体光谱
  • 1篇电感耦合等离...
  • 1篇电感耦合等离...

机构

  • 9篇中国科学院
  • 2篇清华大学

作者

  • 9篇施洪钧
  • 4篇赵玉珍
  • 3篇王喜红
  • 2篇王利
  • 2篇辛仁轩
  • 1篇吕佩德

传媒

  • 4篇光谱实验室
  • 2篇分析化学
  • 1篇分析测试仪器...
  • 1篇第六届全国原...

年份

  • 2篇2009
  • 1篇2000
  • 3篇1998
  • 2篇1997
  • 1篇1996
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
ICP-AES法测定钒酸钇钕晶体中Nd、V和Y被引量：2
1997年
本文用硫酸溶解样品，无需加内标元素，可以同时测定钒酸钇钕晶体中Nd、V和Y的含量，并取得满意结果，主含量V、Y的回收率为99．5％－100.6％，Nd的回收率为98．7％－102．4％，相对标准偏差均小于1％。
施洪钧王喜红吕佩德
关键词：ICPAES钕钇激光晶体
二维电荷注入检测器-端视等离子体光谱仪工作参数的研究被引量：3
1997年
以Ｃｄ、Ｖ为例，对一种新型原子发射光谱仪的分析参数进行试验。该仪器具有电荷注入检测器（ＣＩＤ）和端视等离子体炬管。研究了高频功率和载气压力的影响，探讨了标准曲线的线性动态范围。
辛仁轩赵玉珍施洪钧
关键词：等离子体光谱仪原子发射光谱仪CID
IRIS／AP－ICP－AES法测定BaBPO_5晶体中Ba、B、P的含量
1996年
本文使用美国ＴｈｅｒｍｏＪａｒｒｅｌｌＡｓｈ公司先进的ＩＲＢ／ＡＰ全谱直读等离子体光谱仪，用酸溶样和碱熔样两种方法测定了ＢａＢＰＯ_５晶体中Ｂａ、Ｂ、Ｐ的含量，得到了良好的精密度和准确度，相对标准偏差均小于１％，回收率在９８％─１０３％之间。
施洪钧王喜红
关键词：ICP-AES钡硼
ICP-AES法同时测定氯化锂和氢氧化锂中七种杂质元素被引量：17
1998年
本文报导了用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定ＬｉＣｌ和ＬｉＯＨ·Ｈ２Ｏ中７种杂质元素Ａｌ、Ｂａ、Ｃａ、Ｆｅ、Ｍｇ、Ｓｉ、Ｚｎ的分析方法。研究了基体元素锂对被测元素的基体效应，采用基体匹配法与背景扣除法进行校正。被测元素的检出限为０．１－９．４ｎｇ／ｍＬ，加标试验回收率为９２％－１０９％，当杂质元素含量为０．０００１％－０．０２８％时，相对标准偏差小于７％。方法简便、快速、准确，用于样品分析，取得了满意的结果。
施洪钧赵玉珍
关键词：ICP-AES氯化锂氢氧化锂钡电感耦合等离子体发射光谱
ICP-AES法测定氮化铝晶体中8种掺杂元素的含量
AlN晶体是直接宽带隙半导体,被广泛用于制作紫外LEDs、蓝光-紫外固态LDs、激光器、紫外探测器和高温、高频、高功率电子器件等。在AlN晶格中掺入过渡金属元素使其呈现出铁磁性是科学工作者研究的一个很重要的方向。由于A1...
施洪钧王利
文献传递
ICP-AES法同时测定硝酸锶晶体中十种掺杂元素被引量：2
2000年
本文报道了用 ICP- AES法同时测定硝酸锶晶体中掺杂元素 Ag、Ca、Ce、Cu、Fe、L a、Mg、Mn、Na、Zn的分析方法。本方法采用基体匹配法与背景扣除法对基体干扰及光谱干扰进行校正。被测元素检出限为0 .1— 1 6 ng/ m L,合成样品的回收率为 90 %— 1 1 6 % ,相对标准偏差均小于 1 3%。本法简便、快速、准确。
施洪钧王喜红
关键词：ICP-AES
ICP-AES法测定氮化铝晶体中8种掺杂元素的含量
2009年
AIN晶体是直接宽带隙半导体，被广泛用于制作紫外LEDs、蓝光一紫外固态LDs、激光器、紫外探测器和高温、高频、高功率电子器件等。在AIN晶格中掺入过渡金属元素使其呈现出铁磁性是科学工作者研究的一个很重要的方向。由于AIN具有很强的晶体场，过渡金属掺入AIN晶格以后会受晶体场的影响，产生不同的化合态和能级，从而产生光致发光现象。本文用ICP-AES法对AIN晶体中掺杂的8种元素的含量进行了分析，并取得了满意的结果。
施洪钧王利
关键词：ICP-AES法晶体场过渡金属元素紫外探测器宽带隙半导体
电荷注入检测器-端视等离子体原子发射光谱中分析动态范围被引量：3
1998年
实验研究了电荷注入检测器（ＣＩＤ）－端视电感耦合等离子体（ＡＶＩＣＰ）光谱中分析动态范围，测量了Ａｌ、Ｂ、Ｂｅ、Ｃｄ、Ｃｕ、Ｃｏ、Ｆｅ、Ｌｉ、Ｓｒ、Ｖ、Ｋ、Ｓｒ等１２个元素的不同光谱级次的４４条分析工作曲线。结果表明，分析动态范围为４～５个数量级，无明显自吸收，Ｌｏｍａｋｉｎ公式的自吸收系数ｂ＝１，说明在ＣＩＤ－ＡＶＩＣＰ光谱中有较宽的分析动态范围。
辛仁轩赵玉珍施洪钧
关键词：电感耦合等离子体光谱CID
ICP—AES法同时测定氯化锂和氢氧化锂中七种杂质元素
锂和氢氧化锂是重要的化工原料和产品，基中杂质含量的分析对保证产品的质量至关重要。以往常常采用原子吸收光谱法或分光光度法分别测定其中各杂质含量，手续繁琐、费时。该文采用高灵敏度的端视电感耦合等离子体发射光谱法（ＩＣＰ—ＡＥ...
施洪钧赵玉珍
关键词：氯化锂氢氧化锂光谱分析
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