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孙玉芳

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：辽宁大学信息学院电子信息科学与技术更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇少子产生寿命
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体器件
  • 1篇MOS结构
  • 1篇MOS器件
  • 1篇掺杂

机构

  • 1篇辽宁大学

作者

  • 1篇胡延年
  • 1篇孙玉芳
  • 1篇吴春瑜
  • 1篇吕品
  • 1篇王中文
  • 1篇张文

传媒

  • 1篇辽宁大学学报...

年份

  • 1篇1997
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
未知掺杂MOS结构少子产生寿命空间分布研究
1997年
本文采用线性扫描法测定未知掺杂ＭＯＳ结构少子产生寿命空间分布，结果表明。
孙玉芳盛浩然王中文尚世琦张文胡延年吕品吴春瑜
关键词：少子产生寿命半导体器件MOS器件
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共1页<1>
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