孙双花
- 作品数：58 被引量：149H指数：7
- 供职机构：中国计量科学研究院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金北京市属高等学校人才强教计划资助项目国家教育部博士点基金更多>>
- 相关领域：机械工程自动化与计算机技术一般工业技术电子电信更多>>
- 基于线纹尺拼接的大尺寸影像测量仪校准方法
- 为更加科学地实现大尺寸影像测量仪的全范围校准，提出一种标准线纹尺的拼接测量方法。该方法利用影像测量仪自身影像测头和光栅尺重复性较好的优点，通过特定的线纹尺摆放方式，最终获得较小的拼接误差。该方法可实现影像测量仪XY平面内...
- 王冰鹤康岩辉孙双花
- 关键词：计量学影像测量仪大尺寸线纹尺
- 中国长度单位的保持及贡献被引量：4
- 2019年
- 我国的长度单位采用国际单位制(SI)基本单位之一的“米(m)”,为保持同国际一致的长度单位,我国建立的长度基准经历了实物基准、自然基准和复现以基本物理常数定义“米(m)”的激光波长基准的三个阶段。我国计量工作者在我国成功复现了“米(m)”并对国际复现米定义作出了贡献,经过几十年持续不断的研究,建立了我国系列长度计量基标准,保持了国家长度单位量值的统一及与国际量值的一致,长度计量基标准对我国各个领域的发展都起到了支撑作用。
- 孙双花叶孝佑毛起广劳嫦娟
- 关键词：米定义
- 一种基于高速A／D的刻线瞄准信号处理方法被引量：3
- 2008年
- 介绍了基于高速A／D信号处理方法的系统组成和工作原理，包括对瞄准信号的模拟信号调理、A／D采样、数字信号处理等环节，能够实现2nm的瞄准分辨率，可用于激光干涉比长仪的动态显微瞄准系统。通过实验验证了方法的可行性，即使在干扰较大的非理想波形信号的情况下也能得到对刻线瞄准的较高的重复性。
- 张晓叶孝佑孙双花高宏堂常海涛
- 关键词：计量学光电显微镜数据处理
- 基于FPGA的正交信号细分系统研究
- 2008年
- 介绍了一种新的基于FPGA的纯硬件细分系统，该系统主要由模拟信号处理和集成于同一FPGA芯片上的坐标变换、FIFO存储器、FIR滤波器几个部分组成。采用了集成化和模块化设计，具有精度高、实时性好等特点。将此方法应用于2m比长仪的测长系统，通过实验验证了该细分系统的准确性及实用性。
- 常海涛叶孝佑孙双花高宏堂张晓
- 关键词：计量学信号处理FPGA芯片FIR滤波
- 视觉测量关键技术及在自动检测中的应用
- 随着计算机视觉技术和光电技术的飞速发展，视觉测量技术得到了迅速发展和广泛应用，其作为一种非接触测量手段已经越来越引起人们的重视。喷油器底座是汽车油路中的重要部件，由金属精密冲压、内圆磨削而成。该类零件主要用于与柱形零件进...
- 孙双花
- 关键词：视觉测量图像识别计算机视觉
- 激光干涉比长仪校准规范
- 孙双花赵新丽沈雪萍高宏堂
- 面向飞机装配的三维测量工艺模型构建技术被引量：2
- 2020年
- 针对飞机装配过程中的测量工艺需求,将数字化测量技术融入到飞机的设计、制造、装配的各个环节,提出一种面向飞机装配的三维测量工艺模型构建方法。以三维测量模型为核心,研究三维模型总体架构、模型轻量化标注及测量点规划技术,将测量设备信息、待测特征信息、定位特征信息、公差信息、测量点信息等与飞机装配测量过程相关的信息进行组织与管理,为飞机的高精度装配提供计量保障。
- 劳嫦娟赵子越孙双花刘倩頔
- 一种基于网格的图像测量系统高精度标定方法被引量：4
- 2008年
- 提出一种图像测量系统高精度标定方法,设计一种网格靶标,给出了图像分块处理和平行直线拟合方法的靶标特征点提取方法,并采用了一种基于靶标的摄像机位置调整方法。采用两步法对图像测量系统进行标定,首先进行线性标定,然后进行多项式拟合畸变校正。实验结果表明畸变校正后标定精度达到0.18像素,具有较高标定精度。
- 刘力双孙双花
- 关键词：图像测量
- 高等别线纹尺校准装置及校准方法研究
- 高等别线纹尺广泛用于精密加工及精密测量设备的定位、标定及校准等.为满足长三角地区高端装备制造业对高等别线纹尺的量值溯源需求,提升地方计量机构的量传能力,研制开发了新的激光干涉比长仪装置.在主体结构设计、激光干涉测长、环境...
- 孙双花叶孝佑邹玲丁任国营张旭东孙骏栖沈雪萍高宏堂
- 关键词：光电显微镜
- 2m激光干涉测长基准装置被引量：10
- 2012年
- 阐述了2m激光干涉测长基准装置工作原理及系统组成，以线间距测量功能为基础，研究了接触式和非接触式的几何测长对准方法，实现了其测长功能拓展应用。介绍了实现纳米精度测长的技术措施。对称布局的双光电显微镜同步扫描测量接长的方式实现2m刻线间距测量，信号处理系统具有标准间距位置脉冲发生功能，可以实现位移传感器动态触发校准和其它应用。对于高质量的线纹尺，2m激光干涉测长基准装置单次测量刻线间距的最佳瞄准精度优于10nm（1σ），1m测量范围内的线纹测量不确定度U=（20＋40L）nm（k=2）。
- 叶孝佑高宏堂孙双花邹玲丁沈雪萍甘晓川常海涛张晓
- 关键词：计量学
