2024年11月24日
星期日
|
欢迎来到维普•公共文化服务平台
登录
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
顾里平
作品数:
8
被引量:8
H指数:2
供职机构:
昆明物理研究所
更多>>
相关领域:
电子电信
更多>>
合作作者
赵举廉
昆明物理研究所
杨俊霞
昆明物理研究所
赵进豪
昆明物理研究所
褚云汉
昆明物理研究所
李茜
昆明物理研究所
作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
7篇
期刊文章
1篇
会议论文
领域
7篇
电子电信
主题
6篇
红外
4篇
探测器
3篇
热成像
2篇
热成像系统
2篇
红外技术
2篇
红外探测
2篇
红外探测器
2篇
红外系统
2篇
成像系统
1篇
单晶
1篇
单晶表面
1篇
多晶
1篇
修正系数
1篇
修正系数法
1篇
远距离
1篇
热成象
1篇
热成象系统
1篇
最大作用距离
1篇
碲镉汞
1篇
微分
机构
8篇
昆明物理研究...
1篇
云南大学
作者
8篇
顾里平
7篇
赵举廉
6篇
杨俊霞
5篇
赵进豪
4篇
褚云汉
3篇
李茜
1篇
杨雄超
1篇
袁波
1篇
朱惜辰
1篇
阚家德
1篇
莫威
传媒
7篇
红外技术
1篇
95年全国夜...
年份
1篇
1997
3篇
1996
3篇
1995
1篇
1990
共
8
条 记 录,以下是 1-8
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
一种测定MCT单晶表面损伤层厚度的方法——MCT多晶化形变研究之二
被引量:1
1990年
介绍在对碲镉汞单晶片进行表面损伤的研究中观察到研磨会导致单晶片的多晶化和形变织构。应用X射线与单晶和多晶体的互作用原理,测定了多晶化形交层的厚度。
唐家钿
杨雄超
顾里平
朱惜辰
阚家德
袁波
莫威
关键词:
碲镉汞
厚度
MCT
热成象系统的综合评价参数——光谱匹配因数
1997年
论证了红外探测器和热成象系统的所有评价参数:响应度R、探测度D、信号Vs、信噪比Vs/Vn、最大作用距离/max及温差分辨率NETD、MRTD、MDTD等,无一例外,均要求光谱匹配因数要大。光谱匹配因数能定量反映热成象系统中不同光谱响应的红外探测器,在不同天气和不同光学系统光谱透过率下,对不同温度目标辐射光谱分布的光谱匹配,因此它是能真实、客观、全面、系统、综合、定量反映热成象系统探测效果的最佳综合评价参数。
赵进豪
顾里平
褚云汉
杨俊霞
赵举廉
关键词:
热成象系统
红外探测器
热成像温差分辨率与微分光谱匹配因数的关系
被引量:1
1996年
由近距离低温面目标热成像系统的信号方程和噪声等效温差NETD的定义,导出了NETD∝1/M,并由此得到MRTD∝1/M,MDTD∝1/M从而证明了热成像系统的温差分辨率:NETD、MRTD、MDTD均要求微分光谱匹配因数M要大。这为选用光谱匹配因数M和M作为热成像系统的综合评价参数奠定了理论基础。
赵举廉
李茜
赵进豪
诸云汉
顾里平
杨俊霞
关键词:
热成像
红外技术
红外系统光谱匹配因数
赵举廉
顾里平
关键词:
红外系统
探测器
远距离热成像系统的光谱匹配因数
被引量:3
1996年
本文导出了远距离热成像系统的光谱匹配因数:并证明了红外系统的最大作用距离.
赵举廉
褚云汉
赵进豪
李茜
顾里平
杨俊霞
关键词:
远距离
热成像系统
最大作用距离
近距离热成像系统的光谱匹配因数──微分光谱匹配因数
1996年
导出了适用于近距离面目标热成像系统的微分光谱匹配因数(亦称质量因数)且。当T≈300K、λ=8~14μm时,当T≈1000K,λ=3~5μm时,决定热成像系统的温度分辨率:NETD,MRTD,MDTD。
赵举廉
赵进豪
李茜
杨俊霞
顾里平
褚云汉
关键词:
红外技术
热成像系统
微分
红外系统光谱匹配因数
被引量:2
1995年
本文从最基本的红外系统──探测器对辐射源的响应出发,导出了辐射源组合系统的光谱匹配因数表达式。并在1~14μm波段范围内计算了常用红外探测器HgCdTe、InSb、PbS对300K、500K、800K、1000K黑体辐射的光谱匹配因数。总结了这些红外探测器对不同温度黑体辐射光谱匹配因数的变化规律,可供红外系统设计者参考。
赵举廉
顾里平
杨俊霞
诸云汉
关键词:
红外系统
探测器
辐射源
红外探测器探测度D(T,f)探讨
被引量:3
1995年
本文导出了红外探测器探测度D*(T,f,l)与光谱匹配因数α(ωλT,rλ)之间的关系,对D*(500K,f,l)值进行了探讨。由于实际应用中目标温度差别很大,D*(500K,f,l)值与实际探测结果并不一致。笔者导出了一个重要的关系式:D*(T,f,l)=K(T,rλ)D*(500K,f,l)。给出了HgCdTe、Insb和PbS红外探测器的一种K—T曲线。提出了迅速简便获得D*(T,f,l)值的修正系数法,从而得到与实际应用结果相一致的D*(T,f,l)值。
赵举廉
杨俊霞
褚云汉
顾里平
赵进豪
关键词:
红外探测器
修正系数法
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张