陈凯
- 作品数：19 被引量：50H指数：5
- 供职机构：中国科学院高能物理研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金博士研究生创新基金新材料领域项目更多>>
- 相关领域：理学机械工程核科学技术电子电信更多>>
- 基于多层膜偏振元件的软X射线磁光Faraday偏转测量
- 2008年
- 在北京同步辐射装置(BSRF)的3W1B软X射线光束线上利用自行研制的同步辐射软X射线综合偏振测量装置对Ni的M2,3边附近(60—70eV)进行了软X射线磁光(magneto-optical)法拉第效应(Faraday effect)的偏转测量,实验装置主要由起偏器,检偏器,样品架,圆形钕铁硼永磁铁和MCP探测器组成,偏振元件(起偏元件和检偏元件)均采用反射式非周期性Mo/Si宽带多层膜.实验采用反射起偏和反射检偏的模式,得到一系列能量范围在60—70eV间的法拉第偏转角结果,结果表明在Ni的M2,3边附近法拉第效应最为明显,当能量为65.5eV和68eV时,Faraday偏转角分别为1.79°±0.19°(1.79°为正反向磁场偏转角大小的平均值)和-0.76°±0.09°(0.76°为正反向磁场偏转角大小的平均值).
- 鄢芬崔明启陈凯孙立娟席识博周克瑾郑雷赵屹东王占山朱京涛张众赵佳
- 关键词：软X射线
- 北京同步辐射装置3B3光束线吸收谱测量及装置设计被引量：2
- 2008年
- 介绍了在北京同步辐射装置(BSRF)3B3中能光束线(1.2～6.0keV)进行X射线吸收谱(XAS)的简易装置,并利用透射法对低原子序数元素(S、P、Cl、Ca、Al、Mg等)进行X射线吸收谱测量,分析结果表明在3B3中能X射线能区开展吸收谱学研究工作是可行的。根据计算X射线吸收谱信号的结果,设备设计满足测量要求,一套包含3种X射线吸收谱测量方式(透射法、荧光法和电子产额法)的精密设备正在建设,将有利于中等能区X射线谱学研究工作的广泛开展。
- 马陈燕崔明启赵屹东周克瑾朱杰郑雷赵佳孙立娟陈凯
- 关键词：光束线硫化物
- RAP晶体积分衍射效率的实验研究被引量：7
- 2009年
- 以北京同步辐射装置的4B7中能束线为光源,对RAP(邻苯二甲酸氢銣)晶体的积分衍射效率进行了实验标定.结果显示:晶体在不同能量段都得到了完整的衍射峰,扭摆曲线的光滑性和对称性较好,在偏离布喇格角以后衍射效率都迅速下降到本底量级.在2.1～5.8keV范围内,晶体的积分衍射效率在1×10-4rad左右.
- 甘新式杨家敏易荣清张继彦赵屹东赵阳郑雷马陈艳陈凯崔明启邓爱红
- 关键词：激光等离子体X射线光谱
- 同步辐射软X射线偏振测量装置及其应用
- 崔明启孙立娟朱杰赵佳赵屹东郑雷陈凯席识博
- 该项目属同步辐射X射线光学技术研究领域。研制了一套同步辐射软X射线多功能综合偏振测量装置，该装置可用于偏振特性测量、光学元件性能测试及偏振磁学应用等，也可作为多功能通用反射率计使用。该装置可工作在双反、双透、前反后透和前...
- 关键词：
- 关键词：检测仪器
- 北京同步辐射装置3W1B软X射线光束线偏振特性测量(英文)被引量：1
- 2007年
- 应用自行研制的Mo/Si周期多层膜作为起偏器和检偏器的光学元件,测量了北京同步辐射装置3W1B束线的偏振状态．通过数据分析,得到了3W1B软X射线的有关偏振参数,在86—89eV能区经过起偏器后的偏振度超过98%,圆偏振分量介于1%—3%之间．
- 朱杰崔明启孙立娟王占山郑雷赵屹东赵佳周克瑾陈凯马陈燕
- 关键词：软X射线
- 北京同步辐射装置3B3光束线输出特性初步诊断被引量：5
- 2005年
- 详细介绍了前端区、前置聚焦单元和单色器系统的诊断方法,并对结果进行了初步分析。指出前端区机械设计和整条束线的安装准直存在缺陷,是导致光通量未能达到设计指标的主要原因之一。检测手段的定量化对顺利调试束线、测试束线性能是有重要意义的。
- 赵佳崔明启赵屹东周克瑾郑雷朱杰孙立娟陈凯马陈燕
- 关键词：光束线光通量
- BSRF-3B3束流位置监测系统的研制被引量：2
- 2008年
- 光斑的绝对位置和强度是同步辐射光束线性能的重要参数,本文研制的双丝XBPM系统既可以监测束流的稳定性,又可以探测光斑的形状、光强的分布。详细介绍了该系统的物理设计思想和机械设计要求,阐述了其光学设计原理,并对局部B轨参数的调整和垂直光斑绝对位置及光斑半高全宽FWHM测量的实验过程进行了详细介绍和分析。自行研制的XBPM系统顺利地完成了对光束强度的扫描和对光斑绝对位置的信息传递任务,指导了局部B轨参数的调整。
- 赵佳崔明启赵屹东田玉莲周克瑾郑雷朱杰陈凯马陈燕
- 关键词：束流位置监测器双丝
- 软X射线金属薄膜光吸收截面及光学常数研究
- 物质原子光吸收截面及光学常数是反映光与物质相互作用的重要物理量，对于材料科学，薄膜技术，天文科学以及X射线谱学研究等有着重要意义。本论文以北京同步辐射装置3W1B、4B7B光束线及合肥国家同步辐射实验室U24光束线为平台...
- 陈凯
- 关键词：软X射线
- nm量级薄膜厚度测量被引量：13
- 2008年
- 为了获得nm量级薄膜样品的精确厚度,采用软X射线反射率拟合方法、Bragg衍射方程方法和反射率Fourier变换方法分析了常规Cu靶X射线衍射数据及软X射线反射率数据。对厚度测量结果进行比较,3种方法得到的结果一致性很好。其中,软X射线反射率拟合和Bragg衍射方程方法精度很高,优于1nm,Fourier变换方法精度稍低。对于单层W薄膜样品,3种方法获得厚度分别为(15.21±0.60)nm,(14.0±1.0)nm和(13.8±1.5)nm;对于双层W/C薄膜样品,W层厚度分别为(12.64±0.60)nm,(13.0±1.0)nm和(13.9±1.5)nm。这3种方法测量结果精度主要取决于反射率数据测量精度,而Fourier变换方法精度随着能量升高而提高,随着掠入射角范围增大而提高。
- 陈凯崔明启郑雷赵屹东
- 关键词：薄膜厚度FOURIER变换
- 软X射线反射法测量金属W的光学常量
- 2007年
- 在同步辐射装置3W1B光束线上测量了软X射线能区50～200eV金属W薄膜的反射率，并采用最小二乘拟合得到其光学常量．实验采用三种样品：Si衬底单层W超薄膜，Si衬底W／C双层膜，SiO2衬底W薄膜．分别获得金属W光学常量，三种样品的结果分别代表W薄膜光学常量，WC薄膜结合中W薄膜的光学常量及体材料W的光学常量．结果表明，前两者结果与以往发表数据一致性较好，第三种样品的结果则更接近已发表的体材料的结果．通过实验结果和已发表数据的比较，发现随着薄膜厚度的降低，光学常量实部（色散因子）变化不明显，而虚部（吸收因子）随之升高．实验不确定度来源于光谱纯净度和光源稳定性．
- 陈凯崔明启郑雷赵屹东
- 关键词：软X射线金属薄膜
