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王绍华
作品数:
30
被引量:10
H指数:2
供职机构:
中国科学院上海硅酸盐研究所
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发文基金:
国家自然科学基金
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相关领域:
理学
化学工程
核科学技术
一般工业技术
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合作作者
任国浩
中国科学院上海硅酸盐研究所
沈定中
中国科学院上海硅酸盐研究所
殷之文
中国科学院上海硅酸盐研究所
倪海洪
中国科学院上海硅酸盐研究所
陈俊锋
中国科学院上海硅酸盐研究所
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中国科学院
作者
30篇
王绍华
11篇
任国浩
10篇
殷之文
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沈定中
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倪海洪
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2004
2篇
2001
5篇
1999
3篇
1998
1篇
1997
共
30
条 记 录,以下是 1-10
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下降法生长500-1000mm长锗酸铋晶体的装置与方法
本发明提供一种下降法生长500-1000mm长锗酸铋晶体的装置和方法。所述生长锗酸铋晶体的装置包括炉体结构系统和辅助加热系统。在本发明中,通过炉体结构系统和辅助加热系统同时对晶体生长装置相应的梯度区和辅助加热区进行控温并...
王绍华
倪海洪
周里华
陈俊锋
刘光煜
赵鹏
袁兰英
周学农
张健
宋桂兰
齐雪君
李赟
陆裕贵
杜勇
李文朋
李敏
徐力
孙世允
刘训龙
文献传递
一种熔料补充生长晶体的装置和方法
本发明涉及一种熔料补充生长晶体的装置和方法,属于晶体生长领域。本发明生长装置,包括提拉旋转系统(2、11)、加热控温系统(4、7)和称重系统(1),排液系统(3、12、9)和多坩埚系统(10、8);其中排液系统与称量系统...
郑燕青
陆治平
施尔畏
王绍华
崔素贤
文献传递
坩埚升降法补充熔料生长晶体的装置和方法
本发明涉及一种坩埚升降法补充熔料生长晶体的装置和方法,属于晶体生长领域。本发明生长装置中,生长坩埚10与原料补给坩埚8相连通,补给坩埚可套在生长坩埚的外部。生长坩埚的顶部或补给坩埚的底部连接坩埚升降机构3。提拉旋转系统包...
郑燕青
陆治平
施尔畏
王绍华
崔素贤
文献传递
氟化铅晶体中针状缺陷的成因研究
被引量:2
1999年
利用光学显微镜观察了存在于立方氟化铅晶体中的针状结构缺陷.根据XRD,EMPA和透射光谱测试以及原料的XRD和DTA特征,认为这种针状结构缺陷属于斜方氟化铅.对试样的退火实验证实,在高于氟化铅相变温度的条件下退火若干小时可以有效地消除这种缺陷.在上述基础上提出针状缺陷的形成与热应力作用下部分β-PbF2向α-PbF2的相转变有关,而针状缺陷的消除则被归因于退火后热应力的释放和在高于365℃温度下α-PbF2向β-PbF2的相转变.
任国浩
沈定中
王绍华
邓群
殷之文
关键词:
退火
相转变
晶体
一种熔料补充生长晶体的装置和方法
本发明涉及一种熔料补充生长晶体的装置和方法,属于晶体生长领域。本发明生长装置,包括提拉旋转系统(2、11)、加热控温系统(4、7)和称重系统(1),排液系统(3、12、9)和多坩埚系统(10、8);其中排液系统与称量系统...
郑燕青
陆治平
施尔畏
王绍华
崔素贤
文献传递
钨酸铅晶体宏观缺陷及其掺杂效应
该论文对采用下降法生长PWO晶体中存在的宏观缺陷和晶体掺杂效应进行了研究.晶体着色是PWO晶体两大类宏观缺陷之一.文中提出,在晶体生长过程中,控制晶体生长速度、提高固-液界面温度梯度,兼辅以既能补Pb又能补O的掺杂剂可以...
王绍华
关键词:
辐照损伤
钨酸铅(PbWO4)闪烁晶体在一些掺杂剂作用下的异常发光
钨酸铅(PbWO,简写为PWO)化合物的发光现象最初发现于1948年,但由于它在室温下的光输出较低而没有引起人们的足够重视。1990年,Derenzo等发现PWO具有快速闪烁的特性,尽管当时报道的光输出仅为锗酸铋(BGO...
任国浩
王绍华
毛日华
沈定中
殷之文
关键词:
钨酸铅
发光
掺杂
文献传递
坩埚升降法补充熔料生长晶体的装置和方法
本发明涉及一种坩埚升降法补充熔料生长晶体的装置和方法,属于晶体生长领域。本发明生长装置中,生长坩埚10与原料补给坩埚8相连通,补给坩埚可套在生长坩埚的外部。生长坩埚的顶部或补给坩埚的底部连接坩埚升降机构3。提拉旋转系统包...
郑燕青
陆治平
施尔畏
王绍华
崔素贤
文献传递
下降法生长宽板状锗酸铋晶体的生长装置与方法
本发明提供一种下降法生长宽板状锗酸铋晶体的生长装置与方法。本发明通过改变生长装置中上隔砖7的形状以及活动调节生长装置的横向宽度和高温区的高度,并设计出超大尺寸的铂金坩埚和氧化铝引下坩埚,利用长晶体作为籽晶横向接种,调整均...
倪海洪
王绍华
周里华
刘光煜
陈俊锋
赵鹏
袁兰英
宋桂兰
齐雪君
张健
文献传递
氟化铅晶体中300nm光吸收带的起因
被引量:1
1999年
在 Pb F2 晶体的透射光谱中常存在一个300nm 光吸收带,其特征是吸收强度从结晶开始端向结晶结束端递减。利用原子吸收光谱分析( A A S) ,发现具有300nm 光吸收带的晶体含有比较多的杂质离子 Ca 和 Ba ,但根据掺杂实验及其它氟化物晶体中存在的类似吸收现象,排除了 Ca 和 Ba 是造成这一吸收现象的原因,而是认为 Ce3 + 离子杂质的4f→5 d 跃迁是造成该吸收带的原因。氟化铅晶体中的微量 Ce3 + 离子杂质来源于生产 H F 时所使用的天然矿物 Ca F2 。通过对 H F 这一制备 Pb F2 原料的高度提纯可以有效地消除晶体中的300nm 吸收带。
任国浩
沈定中
王绍华
刘光煜
殷之文
关键词:
吸收带
氟化铅晶体
透射光谱
铈离子
跃迁
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