王松林
- 作品数：34 被引量：16H指数：3
- 供职机构：西安应用光学研究所更多>>
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- 相关领域：电子电信理学一般工业技术自动化与计算机技术更多>>
- 一种实现均匀加热除冰除霜的圆形光学窗口镀膜方法
- 本发明属于光学薄膜领域，具体涉及一种实现均匀加热除冰除霜的圆形光学窗口镀膜方法。所述方法通过对圆形光学窗口表面镀制的可加热薄膜厚度分布进行设计，并制作相应的薄膜厚度调控挡板来调控制备的导电加热薄膜厚度，以改善圆形光学窗口...
- 王松林杨崇民张建付刘青龙米高园陶忠朱筱群李明伟
- 文献传递
- 一种内嵌式电磁屏蔽金属网栅制作方法
- 本发明公开了一种内嵌式电磁屏蔽金属网栅制作方法，包括如下步骤：在光学基底上制作反向掩膜；等离子束刻蚀金属网栅沟槽；金属薄膜镀制；底层薄膜镀制；去胶及清洁；耐环境侵蚀性能的光学增透膜镀制。本发明通过在光学基底表面采用掩膜制...
- 王松林张建付李明伟杨崇民米高园阴万宏陶忠王颖辉赵红军
- ITO薄膜的电阻并联效应研究被引量：1
- 2020年
- 采用电子束蒸发镀膜方法在K9玻璃基底上分别镀制了ITO/SiO2/ITO,ITO/Ti2O3/ITO和ITO/MgF2/ITO结构的多层薄膜,用四探针方块电阻仪测量薄膜表面的方块电阻,用原子力显微镜观测样品的表面微观形貌。结果显示,当ITO薄膜的粗糙度较大且介质薄膜的物理厚度小于100nm时,各层ITO薄膜之间通过山峰状的凸起结构相连通,导致样片表面的方块电阻测量值与各层ITO薄膜电阻的并联值相当。这表明,当ITO薄膜的粗糙度较大且介质薄膜厚度较小时,各层ITO薄膜表现出电阻并联效应。利用多层ITO薄膜的电阻并联效应设计并制备了450~1 200nm超宽光谱透明导电薄膜,用四探针方块电阻仪测量了试验样片的表面方块电阻,用紫外-可见-近红外分光光度计测试了样片的光谱透射率。结果显示,在相同表面方块电阻条件下,相比于单层ITO薄膜,利用ITO薄膜电阻并联效应所制备的多层透明导电薄膜具有更高的光谱透射率。
- 王松林杨崇民张建付李缘米高园刘青龙
- 关键词：电子束蒸发ITO薄膜方块电阻
- 一种氟化镁中波红外光学窗口高强度保护膜的膜系结构
- 本发明提出一种氟化镁中波红外光学窗口高强度保护膜的膜系结构，包括氟化镁基片和减反射高强度保护膜系，减反射高强度保护膜系由四个膜层叠加构成，第一膜层为氟化镁膜层，镀制在氟化镁基片的表面上，膜层厚度18～24nm；第二膜层为...
- 张建付杨崇民米高园张万虎刘青龙黎明王松林刘方杨建军金珂赵兴梅杨华梅王润荣董莹
- 文献传递
- 一种用于大口径易变形硫化锌光学窗口零件的微流动性复合抛光模及其制作方法
- 本发明提出一种用于大口径易变形硫化锌光学窗口零件的微流动性复合抛光模及其制作方法，抛光模包括抛光模主体、基础层、模垫层和抛光层。本发明采用以低膨胀高稳定的材料作为抛光模主体，以光学用沥青与模垫相互结合作为底材，通过标准平...
- 冯耕李明伟吴斌王松林郑军刚马方斌张岩韩娟妮
- 文献传递
- 用于大尺寸集成光学窗口分辨率测试装置和方法
- 本发明属于光机装配光学窗口测试技术领域，具体涉及一种用于大尺寸集成光学窗口分辨率测试装置和方法。针对现有测试装置的不足，本发明测试装置通过升降平台、方位旋转和俯仰旋转对大尺寸集成光学窗口进行分辨率测试，其测试方法由原来每...
- 赵红军贾雪涛张森张燕张向明朱筱群李玉喜卢恒刘伟光惠刚阳左晓舟王松林乌龙辉杨熊
- 一种大口径超径厚比异形平面光学零件柔性抛光盘
- 本发明公开了一种大口径超径厚比异形平面光学零件柔性抛光盘，包括配形抛光盘和异形零件加工抛光盘，异形零件加工抛光盘嵌入配形抛光盘内，异形零件加工时，柔性抛光盘放置在抛光模上，待抛光面与抛光模表面之间磨削抛光；配形抛光盘包括...
- 冯耕李明伟昌明杨崇民张建付王松林吴斌马方斌张岩刘青龙米高园
- 一种10.6μm激光窗口抗磁可加热薄膜膜系结构
- 本发明提出一种10.6μm激光窗口抗磁可加热薄膜膜系结构，包括红外基片、介质膜层、导电膜层和电极膜层；第一膜层为硫化锌膜层，镀制在所述红外基片的表面上，膜层厚度300～600nm；第二膜层为锗膜层，厚度654±1nm，镀...
- 刘青龙米高园张建付王松林韩俊金柯杨崇民王慧娜黎明董莹刘永强李明伟杨建军
- 文献传递
- 一种氟化镁中波红外光学窗口高强度保护膜的膜系结构
- 本发明提出一种氟化镁中波红外光学窗口高强度保护膜的膜系结构，包括氟化镁基片和减反射高强度保护膜系，减反射高强度保护膜系由四个膜层叠加构成，第一膜层为氟化镁膜层，镀制在氟化镁基片的表面上，膜层厚度18～24nm；第二膜层为...
- 张建付杨崇民米高园张万虎刘青龙黎明王松林刘方杨建军金珂赵兴梅杨华梅王润荣董莹
- 文献传递
- 精确拟合两种薄膜的光学常数及其应用
- 2019年
- 研究了一种新的研究薄膜光学参数的方法,在同一基片上沉积两种薄膜,可以同时对这两种薄膜材料进行参数拟合。通过材料实验与光谱测试,基于柯西公式拟合得到了两种薄膜在可见与近红外波段的光学参数。将获得的薄膜参数应用到透450~600、反650~800滤光膜的设计与制备中,结果表明,用该方法获取的薄膜材料参数具有较高的准确性。
- 王松林张建付米高园李缘王颖辉杨崇民刘青龙
- 关键词：光学薄膜
