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张兴宏
作品数:
6
被引量:16
H指数:3
供职机构:
中国科学院上海冶金研究所上海微系统与信息技术研究所
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发文基金:
国家自然科学基金
“上海-应用材料研究与发展”基金
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相关领域:
电子电信
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合作作者
夏冠群
中国科学院上海冶金研究所上海微...
徐元森
中国科学院上海冶金研究所上海微...
程知群
中国科学院上海冶金研究所上海微...
顾伟东
中国科学院上海冶金研究所上海微...
吴杰
中国科学院上海冶金研究所上海微...
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张兴宏
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2000
5篇
1999
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界面态对AlGaAs/GaAs HEMT直流输出特性的影响
被引量:6
1999年
本文利用高电子迁移率晶体管(HEMT)的直流输出分析模型,首次定量地分析了界面态对AlGaAs/GaAs HEMT 直流输出特性的影响.考虑界面态的作用,详细分析了不同界面态密度对HEMT的IV特性和器件跨导的影响.我们的研究结果表明随着界面态密度的增加,栅极电压对电流的控制能力减小,从而使器件的跨导减小.
张兴宏
程知群
夏冠群
徐元森
杨玉芬
王占国
关键词:
HEMT
界面态
直流输出
ALGAAS
GAAS
HEMT结构材料中二维电子气的输运性质研究
被引量:4
1999年
本文通过变温的Hal测量系统地研究了GaAs基HEMT和PHEMT以及InP基HEMT三种结构材料的电子迁移率μn和二维电子浓度ns.仔细地分析了不同HEMT结构材料的散射机制对电子迁移率的影响以及不同HEMT材料结构对电子浓度的影响.研究结果表明InP基HEMT的ns×μn值比GaAs基HEMT和PHEMT的ns×μn值都大,说明可以用ns×μn值来判断HEMT结构材料的性能好坏.
张兴宏
夏冠群
徐元森
徐波
杨玉芬
王占国
关键词:
HEMT
晶体管
电子迁移率
二维电子气
Al_(0.3)Ga_(0.22)In_(0.48)P/GaAsHBT高温特性的研究
1999年
本文研制了Al03Ga022In048P/GaAs高温HBT器件,详细地研究了器件在300K~623K范围内HBT的直流电学特性.结果表明Al03Ga022In048P/GaAsHBT器件具有良好的高温特性,在300K~623K温度范围内,动态电流增益变化小于10%.Al03Ga022In048P/GaAsHBT可工作至623K,工作温度超过623K后,器件就不能正常工作,经分析发现导致HBT失效的直接原因是BC结短路.BC结短路的机制有待今后进一步探讨.
吴杰
夏冠群
束伟民
顾伟东
张兴宏
P.A.Houston
关键词:
异质结
双极晶体管
HBT
四元系AlGaInP为发射极异质结双极晶体管研究
被引量:3
1999年
本文对AlGaInP/GaAs异质结双极晶体管(HBT)进行了研究.设计并制备了AlGaInP为发射极的叉指结构HBT器件.研究结果表明,AlGaInP/GaAsHBT具有较高的电流增益和较好的温度特性.同时,由于对AlGaInP和GaAs腐蚀选择性大,因而工艺简单、重复性好.
程知群
孙晓玮
束伟民
张兴宏
顾伟东
夏冠群
关键词:
HBT
双极晶体管
异质结
发射极
高温Al_(0.3)Ga_(0.22)In_(0.48)P/GaAsHBT电流增益的计算分析
被引量:6
2000年
建立了Al0.3Ga0.22In0.48P/GaAs 异质结双极型晶极管(HBT)中电流输运过程的模型,利用实验得到的材料特性参数进行了HBT电流增益随温度变化的模拟.随着温度上升,小电流时电流增益下降较多,而大电流时电流增益基本保持不变.模拟表明,小电流下电流增益的下降主要是由eb 结空间电荷区的复合电流随温度增加而造成的;而大电流下电流增益直至723K 下降仍小于10% .最高工作温度可达848K.由于采用的计算方法充分考虑了空间电荷区复合电流的影响,模拟结果较为符合实际情况,可为研制高性能HBT器件所需材料提供参考依据.
吴杰
夏冠群
束为民
顾伟东
张兴宏
关键词:
电流增益
HBT
ALGAINP
GAAS
砷化镓
深能级对AlGaInP/GaAs异质结双极晶体管性能的影响
被引量:2
1999年
用深能级瞬态光谱和光致发光(PL)方法研究了AlGaInP/GaAs异质结双极晶体管(HBT)发射区AlGaInP中的深能级.得到了两个深能级,分别为Ec-Et1=042eV和Ec-Et2=059eV,其复合截面为σn1=627×10-17cm2和σn2=649×10-20cm2.这两个深能级分别与硅杂质和氧杂质相联系.从不同激发功率与PL峰强度的关系,说明在AlGaInP中存在深能级非复合中心.AlGaInP/GaAsHBT发射区AlGaInP中深能级的存在使器件的电流增益减小.
张兴宏
胡雨生
吴杰
程知群
夏冠群
徐元森
陈张海
桂永胜
褚君浩
关键词:
砷化镓
铝镓铟磷
深能级
异质结
晶体管
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