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黄伟平

作品数:4 被引量:2H指数:1
供职机构:华东计算技术研究所更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 2篇会议论文

领域

  • 4篇自动化与计算...
  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇循环冗余校验
  • 2篇循环冗余校验...
  • 2篇异步
  • 2篇异步传输
  • 2篇异步传输模式
  • 2篇冗余
  • 2篇冗余校验
  • 2篇自测试
  • 2篇校验码
  • 2篇芯片
  • 2篇芯片设计
  • 2篇内建自测试
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  • 2篇可测性
  • 2篇可测性设计
  • 2篇ATM
  • 2篇CRC算法
  • 2篇并行处理
  • 2篇测试技术
  • 2篇传输模

机构

  • 4篇华东计算技术...

作者

  • 4篇黄伟平
  • 2篇刘宇
  • 2篇殷弼君
  • 2篇王玉艳
  • 2篇李正昊

传媒

  • 2篇计算机工程
  • 2篇华东计算技术...

年份

  • 4篇2008
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
基于CRC算法的ATM信头校验
采用一种迭代算法实现ATM信头错误定位,对CRC进行校验并纠正32位原始数据和8位CRC码中单比特传输错误电路.实验结粜表明,相对于一般的查找表,该种电路结构简单、运行速度高.
黄伟平李正昊刘宇王玉艳
关键词:异步传输模式循环冗余校验码并行处理迭代算法
文献传递
存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用被引量:1
2008年
针对SoC芯片中存储器模块的测试问题,在结合设计工具的基础上,提出了存储器的测试结构和方法,并且讨论了存储器模型的应用与调试。
殷弼君黄伟平
关键词:可测性设计存储器内建自测试
存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用
针对SoC芯片中存储器模块的测试问题,在结合设计工具的基础上,提出了存储器的测试结构和方法,并且讨论了存储器模型的应用与调试.
殷弼君黄伟平
关键词:芯片设计可测性设计存储器内建自测试
文献传递
基于CRC算法的ATM信头校验被引量:1
2008年
采用一种迭代算法实现ATM信头错误定位,对CRC进行校验并纠正32位原始数据和8位CRC码中单比特传输错误电路。实验结果表明,相对于一般的查找表,该种电路结构简单、运行速度高。
黄伟平李正昊刘宇王玉艳
关键词:异步传输模式循环冗余校验码并行处理
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