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陈超

作品数:2 被引量:3H指数:1
供职机构:中国科学院研究生院更多>>
发文基金:中国科学院院长基金更多>>
相关领域:理学电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 2篇SICN
  • 2篇A-SI
  • 1篇电子能
  • 1篇电子能谱
  • 1篇原子
  • 1篇退火
  • 1篇化学键
  • 1篇化学键合
  • 1篇键合
  • 1篇光电子能谱
  • 1篇高温退火
  • 1篇PL
  • 1篇XPS
  • 1篇X射线
  • 1篇X射线光电子...
  • 1篇H
  • 1篇X

机构

  • 2篇中国科学院研...
  • 2篇中国科学院微...
  • 1篇中国科学技术...

作者

  • 2篇陈超
  • 2篇刘渝珍
  • 2篇董立军
  • 2篇陈大鹏
  • 1篇徐彭寿
  • 1篇王小波
  • 1篇张国斌
  • 1篇符义兵

传媒

  • 1篇Journa...
  • 1篇发光学报

年份

  • 2篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
C^+注入a-SiN_x∶H的原子化学键合的研究
2007年
常温下对低压化学气相沉积制备的纳米硅镶嵌结构的a-SiNx∶H薄膜进行C+注入,能量为30keV,剂量为2×1017cm-2.对C+注入的SiNx薄膜在800℃的温度下,进行2h的常规炉退火处理.通过XPS,AES的测量得到,经800℃高温退火处理后的薄膜形成了部分SiCxNy结构.用喇曼、XPS等分析手段对薄膜结构及成分进行了测量与分析,得到不同退火温度对离子注入形成SiCN薄膜结构与成分的影响,认为高温退火后薄膜中硅含量与SiCxNy薄膜的形成有重要的关系.
陈超刘渝珍董立军陈大鹏王小波
关键词:SICN
C^+注入a-SiN_x∶H薄膜的微结构及光发射的研究被引量:3
2007年
常温下对低压化学气相沉积制备的纳米硅镶嵌结构的a-SiNx∶H薄膜进行低能量高剂量的C+注入后,在800~1 200℃高温进行常规退火处理。X射线光电子能谱(XPS)及X射线光电子衍射(XRD)等实验结果表明,当退火温度由800℃升高到1200℃后,薄膜部分结构由SiCxNy转变成SiNx和SiC的混合结构。低温下利用真空紫外光激发,获得分别来自于SiNx、SiCxNy、SiC的,位于2.95,2.58,2.29 eV的光致发光光谱。随着退火温度的升高,薄膜的结构发生了变化,发光光谱也有相应的改变。
陈超刘渝珍张国斌徐彭寿符义兵董立军陈大鹏
关键词:SICN高温退火
共1页<1>
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