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郝建民
作品数:
3
被引量:3
H指数:1
供职机构:
中国电子科技集团公司第四十六研究所
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发文基金:
天津市科技计划
国家自然科学基金
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相关领域:
金属学及工艺
电子电信
一般工业技术
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合作作者
王健
中国电子科技集团公司第四十六研...
程红娟
中国电子科技集团公司第四十六研...
杨丹丹
中国电子科技集团公司第四十六研...
王利杰
中国电子科技集团公司第四十六研...
褚连青
中国电子科技集团公司第四十六研...
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机构
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天津市硬质合...
作者
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郝建民
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杨丹丹
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褚连青
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王利杰
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程红娟
1篇
王健
传媒
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半导体技术
1篇
理化检验(物...
年份
1篇
2019
1篇
2002
1篇
1992
共
3
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WC-Co硬质合金中η1相含量的X射线衍射定量法
1992年
郝建民
张世敏
李贵全
刘寿荣
关键词:
X射线衍射
硬质合金
稀土抑制钴相变机理研究
郝建民
王利杰
刘寿荣
梁福起
褚连青
杨惠琴
该成果通过纯钴相变历程的研究,发现常温下金属钴能以密排六方(hcp)和面心立方(fcc)两状态同时存在;fcc-Co不仅是高温相,也是常温亚稳相;在无应力作用下,冷却过程中不会发生fcc-Co-hcp-Co相变,应力是以...
关键词:
关键词:
稀土
塑性变形
用高分辨X射线衍射面扫描评估4H-SiC晶片结晶质量
被引量:3
2019年
介绍了高分辨X射线衍射(HRXRD)面扫描技术在评估4H-SiC抛光片整体结晶质量方面的应用。对4H-SiC抛光片整片及局部特定位置进行HRXRD摇摆曲线面扫描,并拟合摇摆曲线半高宽(FWHM)峰值得到的极图,观察4H-SiC抛光片表面的FWHM分布范围、分布特点和多峰聚集区。结合表面缺陷测试仪和偏振光显微镜测试方法,对因螺旋生长产生的晶界分布聚集区以及边缘高应力晶界聚集区进行了表征。二者测试结果与HRXRD摇摆曲线面扫描的结果一致。对多片样品在不同区域使用不同测试方法得到的结果均验证了HRXRD摇摆曲线面扫描可以宏观识别晶畴界面聚集区,清楚辨别出位于晶片中心附近由于螺旋生长面交界形成的晶畴界面,以及位于晶片边缘、受生长热场影响晶粒畸变产生的高应力晶畴界面。
杨丹丹
王健
孙科伟
张胜男
金雷
程红娟
郝建民
关键词:
面扫描
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