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胡大治

作品数:3 被引量:1H指数:1
供职机构:南京大学物理学院固体微结构物理国家重点实验室更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇理学

主题

  • 2篇相变
  • 2篇内耗
  • 2篇GE2SB2...
  • 1篇淀积
  • 1篇钛酸铅
  • 1篇脉冲激光
  • 1篇脉冲激光淀积
  • 1篇介电
  • 1篇介电系数
  • 1篇激光淀积
  • 1篇PBTIO3
  • 1篇SIO2
  • 1篇LA掺杂
  • 1篇掺杂

机构

  • 2篇南京大学
  • 1篇苏州大学

作者

  • 3篇胡大治
  • 2篇朱劲松
  • 2篇吕笑梅
  • 2篇薛若时
  • 1篇沈明荣

传媒

  • 1篇物理学报
  • 1篇上海交通大学...

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇2004
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
Ge_2Sb_2Te_5薄膜相变的内耗
2010年
采用脉冲激光沉积法在Si衬底制备了Ge2Sb2Te5合金薄膜,利用双端夹持音频簧振动技术在kHz范围内研究其由相变所引起的内耗谱,并通过电阻率测量加以验证.结果表明:在Ge2Sb2Te5薄膜的非晶相到立方相、立方相到六方相转变的温度范围内,出现了与相变有关的内耗峰P1和P2,其峰位置与升温速率有关且满足Kissinger关系;内耗峰P1和P2的相变激活能分别为(1.91±0.19)和(3.38±0.33)eV.
胡大治薛若时吕笑梅朱劲松
关键词:GE2SB2TE5薄膜相变内耗
Ge2Sb2Te5薄膜相变的内耗
采用脉冲激光沉积法在Si衬底制备了Ge2Sb2Te5合金薄膜,利用双端夹持音频簧振动技术在kHz范围内研究其由相变所引起的内耗谱,并通过电阻率测量加以验证.结果表明:在Ge2Sb2Te5薄膜的非晶相到立方相、立方相到六方...
胡大治薛若时吕笑梅朱劲松
关键词:GE2SB2TE5薄膜相变内耗
文献传递
淀积气压对脉冲激光淀积La掺杂钛酸铅薄膜介电性能的影响被引量:1
2004年
利用脉冲激光淀积法在Pt Ti SiO2 Si衬底上制备了 2 8mol%La掺杂钛酸铅薄膜 .采用不同的淀积氧气压 ,并分析了其对薄膜微观结构和介电性能的影响 .结果表明 ,在 2Pa左右的气压下淀积的薄膜具有好的结晶度和介电系数 .在频率为 10kHz时 2 8mol%La掺杂钛酸铅薄膜的介电系数达 85 2 ,并且保持了较低的损耗 .同时制备了其他La掺杂浓度的PbTiO3薄膜 ,发现它们也有类似的特点 .
胡大治沈明荣
关键词:LA掺杂PBTIO3脉冲激光钛酸铅SIO2介电系数
共1页<1>
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