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王中林

作品数：6 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院物理研究所更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇中文专利

主题

  • 4篇针状电极
  • 4篇透射电子显微...
  • 4篇纳米
  • 4篇纳米材料
  • 2篇导管
  • 2篇电镜
  • 2篇端部
  • 2篇杨氏模量
  • 2篇原子
  • 2篇原子结构
  • 2篇针状
  • 2篇扫描探针显微...
  • 2篇射电
  • 2篇特征尺寸
  • 2篇透射电镜
  • 2篇物性
  • 2篇线形
  • 2篇空心杆
  • 2篇机械系统

机构

  • 6篇中国科学院

作者

  • 6篇王中林
  • 6篇白雪冬
  • 6篇王恩哥
  • 2篇陈东敏
  • 2篇薛其坤

年份

  • 1篇2008
  • 2篇2007
  • 3篇2005
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
原位微区结构分析与性质测试联合系统
本发明公开了一种原位微区结构分析与性质测试联合系统，包括透射电子显微镜和扫描探针显微镜，扫描探针显微镜包括机械系统和电子学系统，机械系统安装在与透射电子显微镜样品杆外形尺寸一致的气密的空心杆内，对探针(或样品)的位置在透...
白雪冬王恩哥薛其坤王中林陈东敏
文献传递
一种安装和操纵单个线形纳米材料的装置
本发明公开了一种安装和操纵单个线形纳米材料的装置，包括安装盘、轴向调节杆、微分头，安装盘一侧气密固定有一轴向调节杆导向导管，微分头固定在安装盘另一侧，轴向调节杆一端与微分头相连，其另一端通过绝缘套连接有一接头，接头上安装...
王恩哥白雪冬王中林
文献传递
一种安装和操纵单个线形纳米材料的装置
本发明公开了一种安装和操纵单个线形纳米材料的装置，包括安装盘、轴向调节杆、微分头，安装盘一侧气密固定有一轴向调节杆导向导管，微分头固定在安装盘另一侧，轴向调节杆一端与微分头相连，其另一端通过绝缘套连接有一接头，接头上安装...
王恩哥白雪冬王中林
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原位微区结构分析与性质测试联合装置
本发明公开了一种原位微区结构分析与性质测试联合装置，包括透射电子显微镜和扫描探针显微镜，扫描探针显微镜包括机械系统和电子学系统，机械系统安装在与透射电子显微镜样品杆外形尺寸一致的气密的空心杆内，对探针(或样品)的位置在透...
白雪冬王恩哥薛其坤王中林陈东敏
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一种测量单个线形纳米材料杨氏模量的方法
本发明公开了一种测量单个线形纳米材料杨氏模量的方法，该方法利用测量装置测量待测单个线形纳米材料样品的特征尺寸；将待测样品固定在样品支撑装置中两个相对设置的针状电极中的一个电极上；对样品支撑装置上的两个针状电极施加交变电信...
白雪冬王恩哥王中林
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一种测量单个线形纳米材料杨氏模量的方法
本发明公开了一种测量单个线形纳米材料杨氏模量的方法，该方法利用测量装置测量待测单个线形纳米材料样品的特征尺寸；将待测样品固定在样品支撑装置中两个相对设置的针状电极中的一个电极上；对样品支撑装置上的两个针状电极施加交变电信...
白雪冬王恩哥王中林
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