张瑞霞
- 作品数：6 被引量：7H指数：2
- 供职机构：国家半导体器件质量监督检验中心更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程更多>>
- 半导体器件结到壳热阻测试研究被引量：2
- 2016年
- 到壳热阻是衡量半导体器件热性能的重要参数。详细介绍了将半导体器件外壳表面与外部热沉相接触时,从半导体的热耗散结到封装外壳表面的一维热传导路径下,用瞬态双界面法进行结到壳热阻Rth(J-C)测量的方法。阐述了双界面测试法中存在的若干现象与问题,分析了该方法中加热功率、被测件外壳温度控制以及施加加热功率的时间长短对测试结果产生影响的原因,并针对各个问题和影响因素提出了相应的解决办法及合理建议,以获得更为准确且更具有应用性和指导性的热阻测试结果。
- 彭浩茹志芹张瑞霞刘东月徐立生
- 关键词：半导体器件影响因素
- 大功率LED热阻测量不确定度的一种评定方法
- 介绍了电学法测量大功率LED热阻的测量不确定度的一种评定方法.首先对各个分量的不确定度进行分析,得出各分量的相对不确定度,再通过合成计算热阻的合成不确定度.对各个分量按照A类和B类不确定度分别进行了详细计算.对温度系数的...
- 茹志芹张瑞霞彭浩刘东月黄杰
- 关键词：热阻值不确定度
- 文献传递
- 基于MATLAB的LED主波长精确计算方法研究
- LED器件一般采用光谱仪对其光谱参数进行测试,利用公式计算出色品坐标,再利用色品坐标计算得到主波长.传统计算主波长的方法是通过先求斜率再查表得到结果,计算过程不够直观.本文提出一种新的可以精确计算LED主波长的方法,并利...
- 张晨朝林奇全张瑞霞刘东月黄杰
- 关键词：发光二极管计算方法
- 文献传递
- 宇航级晶体管寿命试验
- 2013年
- 选取美国宇航级晶体管2N2219AL同批次的4组(分别为A,B,C和D组)样品进行了寿命试验。A组样品在额定功率P CM为800 mW下进行了6 000 h的工作寿命试验;B,C和D组样品分别在试验应力P为1 200,1 400和1 600 mW下,进行了恒定应力加速寿命试验。对样品电参数直流共发射极电流增益h FE的测试结果表明,h FE呈先增后减的缓慢退化趋势,同时I CBO远小于5 nA的失效标准。试验后,A组样品又在北方实验室环境下贮存了14年,距其制造日期已有32年。对其电参数复测,并与1998年的测试结果对比,没有明显的变化。揭示了高可靠性晶体管在长期工作寿命试验中电参数的变化规律,为其极长的贮存寿命提供了有力的证据。
- 张瑞霞裴选徐立生高兆丰
- 关键词：工作寿命HFE
- 加速寿命试验评估功率发光二极管平均寿命被引量：1
- 2009年
- 采用恒定温度应力的加速寿命试验,对XR7090BL-L1-B3-0-0001功率型蓝色发光二极管(LED)的平均寿命进行了评估。参照已有的发光管光功率缓慢退化公式,采用图估法和数值分析法进行试验数据处理,得到了该型号功率发光二极管工作结温不超过80℃、光通量衰减至70%的平均寿命。
- 黄杰高金环张瑞霞高兆丰徐立生
- 关键词：发光二极管加速寿命试验平均寿命光通量
- 大功率LED稳态热阻测试的关键因素被引量：4
- 2009年
- 热阻值是衡量LED芯片和封装导热性能的主要参数,但在热阻的测试过程中时间、温度和电流等因素都会对结果造成直接影响,因此测试时应综合各种因素,透彻理解参数定义,根据相关标准灵活运用测试设备,以达到较高的测试精度和重复性。按照热阻测试步骤,详述影响其测试结果的因素,并提出较为准确的修正方法,设计了简单试验来验证测试结果是否符合理论分析。经试验证明,该测试方法可作为制定LED标准中的参考。
- 彭浩武红玉刘东月张瑞霞徐立生
- 关键词：发光二极管导热性热阻测试
