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崔国庆
作品数:
3
被引量:2
H指数:1
供职机构:
合肥工业大学
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相关领域:
电子电信
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合作作者
王建华
合肥工业大学理学院
黄庆安
东南大学电子科学与工程学院微电...
秦明
东南大学电子科学与工程学院微电...
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键合材料
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机构
3篇
合肥工业大学
2篇
东南大学
作者
3篇
崔国庆
2篇
黄庆安
2篇
王建华
1篇
秦明
传媒
2篇
电子器件
年份
1篇
2005
2篇
2004
共
3
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硅键合材料及二极管少子寿命测试分析与研究
少子寿命是半导体材料和器件的重要参数。它直接反映了材料的质量和器件特性。能够准确的得到这个参数,对于半导体器件制造具有重要意义。 本文研究了PN结二极管、PIN二极管的多种少子寿命测试方法,使用电荷控制法,通过瞬态...
崔国庆
关键词:
少子寿命
二极管
文献传递
阶越反向恢复法测量PIN二极管少子寿命
2004年
少子寿命是 PIN二极管的重要参数 ,对二极管的正向压降和开关时间有很大的影响。阶越反向恢复法是常用的测试少子寿命方法之一。本文通过分析电荷控制方程得到了更精确的表达式 ,并用这种方法计算了储存电荷法的公式。表达式用 MEDICI器件模拟软件进行了验证。结果表明与目前常用的方法相比 ,本文的方法具有更好的精确性 ,而且简单易行 。
崔国庆
黄庆安
王建华
关键词:
少子寿命
PIN二极管
PIN二极管少子寿命测试方法
被引量:2
2004年
少子寿命是PIN二极管的重要参数。对二极管的正向导通压降和开关时间有重要影响。本文介绍了常用的测量低掺杂区少子寿命的方法 ,包括阶越反向恢复法、线性反向恢复法、储存电荷法、开路电压衰减法 (OCVD)和射频测试法 ,并指出了各种方法的优点和不足。重点介绍了阶越反向恢复法和线性反向恢复法 ,对实际的测试过程具有一定的指导作用。
崔国庆
王建华
黄庆安
秦明
关键词:
PIN二极管
少子寿命
开关时间
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