唐杰
- 作品数：13 被引量：25H指数：3
- 供职机构：四川理工学院材料与化学工程学院更多>>
- 发文基金：四川省教育厅科学研究项目材料腐蚀与防护四川省重点实验室开放基金项目更多>>
- 相关领域：理学一般工业技术机械工程金属学及工艺更多>>
- 铝基硬质阳极氧化膜的电沉积钨合金封孔技术被引量：2
- 2007年
- 介绍了一种有效提高铝基硬质氧化膜硬度的电沉积钨合金封孔技术。利用铝基阳极氧化膜的孔隙导电性,用钴作诱导剂,可以在铝基氧化膜的孔隙中电沉积出钨钴合金。结果表明,钨钴合金从孔隙底部致密地向上填充,能完全封闭孔隙。加之钨钴合金本身的高硬度和高强度可以与硬质氧化膜较好地相配合,能有效地减小应力集中,膜层硬度也因此获得明显提高。
- 唐杰陈敏王莹左由兵
- 关键词：阳极氧化膜电沉积封孔钨合金
- 超声亚饱和法制备纳米氧化铝粉体
- 2012年
- 在超声振荡和搅拌条件下,向碳酸氢钠溶液中缓慢滴加硫酸铝钾,在亚饱和状态下生成富含碳酸的氧化铝前驱体沉淀,分离清洗后的前驱体高温煅烧制得纳米氧化铝粉体。用SPA 400扫描探针显微镜的DFM模式表征粉体颗粒。结果表明:反应溶液浓度0.3mol/L,反应终点pH7,前驱体沉淀600℃煅烧5h,获得的氧化铝粉体呈不规则等轴颗粒状,粒度分布为2～63nm,平均粒径为38nm。
- 唐杰
- 关键词：纳米氧化铝
- X射线连续谱的量子解释被引量：1
- 2004年
- 以量子理论为基础,从金属的能带结构和高能电子对原子内层轨道电子的相互作用出发,阐述了X射线连续谱的产生机理及X射线的量子极限条件,使X射线的特征谱和连续谱的产生机理有了一个统一的解释。
- 唐杰
- 关键词：X射线连续谱
- 用乙二胺四乙酸二钠和正丁醇改善沉淀法白炭黑的性能
- 2008年
- 本文用乙二胺四乙酸二钠和正丁醇改善沉淀法白炭黑的性能,对生产过程阶段性取样,并用扫描探针显微镜和X射线衍射仪分析阶段性样品的颗粒显微结构;探讨了生产条件对阶段性样品颗粒显微结构的影响;分析了产品团聚现象与颗粒显微结构的相互关系。结果表明:生产条件明显影响沉淀法白炭黑原生颗粒的粒径和显微结构;改进生产工艺是提高沉淀法白炭黑产品的根本途径。
- 唐杰李琛
- 关键词：白炭黑沉淀法显微结构
- X射线荧光光谱法检测食盐碘含量在线系统设计被引量：3
- 2012年
- 采用X射线荧光光谱分析法(XRF)在线检测加碘食盐中的碘含量,将其特征谱线强度对应的电流转换成与碘含量成线性关系的数字电信号送入计算机,该信号与预先存入计算机的标准信号比较,产生的误差信号作为控制量对添加碘液的电磁阀进行调节,使食盐中的碘含量始终保持在规定范围之内。从真正意义上实现食盐生产中的碘含量的闭环控制。
- 伍乾永杨平先唐杰
- 关键词：食盐
- 大学生人生规划与专业课程的冲突与协调管窥
- 2011年
- 在大三时期,学生的就业忧患开始凸显,部分学生的人生规划与专业课程出现冲突,并由此引发一些教学管理困难,影响学生心理甚至产生一些社会问题。本文浅析了造成这些问题的因素,并提出了一些协调办法。
- 唐杰
- 关键词：就业
- 提拉法的晶种劈形自紧固方法被引量：2
- 2005年
- 本文介绍一种在提拉法中使用的晶种劈形自紧固方法。将劈形晶种放入相应的燕尾槽晶夹头中,可使晶种不下滑,并承受最小压力。数模分析和多年实践都证明:该方法具有晶种内应力小、热传导性好和操作方便等优点。
- 唐杰
- 关键词：晶种提拉法
- X射线荧光快速分析法测定中低碳钢含碳量被引量：1
- 2009年
- 用CS-206型红外碳硫分析仪对08Al、Y15、S20C、S45C钢样的含碳量标定后作为标样,在S4Explorer X射线荧光光谱仪的Spectra Plus分析软件系统上建立中低碳钢专用的碳元素半定量分析工作谱线C KA1-ALT-DTT。将此谱线引入无标样分析方法Fast-Vac34.MM中,可建立包括含碳量在内的中低碳钢的元素半定量快速分析方法Fast-Vac34.DTT,此方法用于中低碳钢的半定量快速分析。
- 唐杰罗宏王莹左由兵
- 关键词：X射线荧光中低碳钢半定量
- 一种纳米硫酸钡的制备方法被引量：3
- 2010年
- 本文研究在添加有分散剂十六烷基三甲基溴化铵(CTAB)的富氨硫酸铵溶液中滴加氯化钡反应制备纳米硫酸钡的方法。用扫描探针显微镜SPA-400对硫酸钡颗粒的形貌、粒径、粒径分布进行了表征,讨论了反应温度、反应速率、有无分散剂等工艺参数对硫酸钡粒径的影响。结果表明:在室温和较低反应速率条件下,采用化学沉淀法,在富氨溶液中制得的硫酸钡粉体颗粒的平均粒径约为33.52nm;粒径分布窄,分散性良好。
- 唐杰
- 关键词：纳米硫酸钡CTAB扫描探针显微镜
- 利用金相显微镜焦平面测量微米级膜层厚度被引量：9
- 2006年
- 介绍了一种利用金相显微镜聚焦面测量各种涂/镀层厚度的方法。将实验样品的覆膜面打磨成斜面后平放在金相显微镜样品台上,分别对膜层的两个界面对焦,从对焦旋钮上读出两焦面的高度差即为膜层的厚度。本方法可用于各种微米量级的单一膜层和多层复合膜的测厚,在测厚的同时可以观察和分析膜层的显微结构。尤其适用于各种涂/镀膜实验样品的研究分析。
- 唐杰金永中孙亚丽左由兵
- 关键词：测厚金相显微镜膜层
