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文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇电路测试
  • 1篇驱动电路
  • 1篇集成电路
  • 1篇集成电路测试
  • 1篇编程
  • 1篇NIOS
  • 1篇SERIAL
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  • 1篇LED驱动
  • 1篇LED驱动电...
  • 1篇测试程序
  • 1篇测试系统
  • 1篇SITE

机构

  • 3篇中国电子科技...

作者

  • 3篇周冬雁
  • 2篇武乾文
  • 1篇屠莉敏
  • 1篇周亚丽
  • 1篇张鹏辉
  • 1篇周辰

传媒

  • 3篇电子与封装

年份

  • 1篇2013
  • 1篇2006
  • 1篇2003
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
基于Nios Ⅱ的Serial EEPROM测试方法研究
2006年
文章介绍了Serial EEPROM的测试原理,提出了一种基于Nios Ⅱ软核CPU测试Serial EEPROM 的方法,该方法具有稳定性高、所需器件少、可编程、低成本等优点。在Serial EEPROM的大量测试中可以代替昂贵的测试系统,是一种性价比较高的替代测试方案。
周亚丽周辰武乾文周冬雁
关键词:SERIALEEPROMNIOS编程
并行LED驱动电路的多SITE测试方法被引量:1
2013年
并行LED驱动电路的多SITE测试对系统资源和测试速度有较高要求,文章介绍了并行LED驱动电路的工作方式、常见测试参数以及常见参数的测试方法。探讨了在中测阶段进行多SITE测试的方法,对该类电路多SITE测试中的一些难点进行了分析,并提出了一种新的测试方案。该测试方案通过资源复用的方式,采用最新的切换技术,可以有效提高测试准确性,并提高测试效率,降低测试成本。最后介绍了多SITE测试的一些其他要点以及最终的测试结果。
张鹏辉周冬雁
关键词:LED驱动电路
测试程序在不同系统上的移植被引量:2
2003年
在集成电路生产测试过程中,在不同测试系统上互相移植程序,对发挥测试系统的 利用效率、测试分析验证等具有重要意义。本文通过试验对在移植过程中应注意的问题作一探讨。
武乾文屠莉敏周冬雁
关键词:集成电路测试测试系统
共1页<1>
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