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成都恩驰微波科技有限公司

作品数:22 被引量:1H指数:1
相关机构:电子科技大学信息产业部电子第五研究所山东国瓷功能材料股份有限公司更多>>
发文基金:国家自然科学基金中国博士后科学基金更多>>
相关领域:电气工程理学电子电信金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 15篇专利
  • 4篇会议论文
  • 2篇期刊文章
  • 1篇标准

领域

  • 3篇电气工程
  • 3篇理学
  • 2篇电子电信
  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 7篇微波测量
  • 5篇导体
  • 5篇电磁
  • 5篇电磁参数
  • 5篇微带
  • 5篇介电
  • 4篇微波
  • 4篇内导体
  • 4篇复介电常数
  • 4篇测试系统
  • 3篇导带
  • 3篇顶针
  • 3篇同轴腔
  • 3篇转换接头
  • 3篇转接头
  • 3篇外导体
  • 3篇微波设备
  • 3篇微带线
  • 3篇微扰
  • 3篇微扰法

机构

  • 22篇成都恩驰微波...
  • 6篇电子科技大学
  • 1篇中国计量科学...
  • 1篇信息产业部电...
  • 1篇山东国瓷功能...

作者

  • 1篇王强
  • 1篇张云鹏
  • 1篇李恩
  • 1篇张云鹏
  • 1篇高冲
  • 1篇余承勇

传媒

  • 1篇包装工程
  • 1篇宇航材料工艺

年份

  • 4篇2023
  • 1篇2022
  • 3篇2021
  • 1篇2020
  • 7篇2019
  • 6篇2018
22 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种快速电磁参数测试夹具
本实用新型提供一种快速电磁参数测试夹具,包括施压旋钮、横向施压杆固定块、横向施压杆、波导转同轴接头、纵向施压块、棘齿、移动滑轨、冷却波导固定块、高温分段波导、冷却波导固定块。施压旋钮通过螺丝与横向施压杆固定块相连,横向施...
李恩张云鹏周扬高勇
文献传递
一种双重下压微波标贴芯片测试夹具
一种双重下压微波标贴芯片测试夹具,属于微波测量的应用领域,涉及芯片测试(chip test)。微波标贴芯片快速测试时,通常采用下压的方式。传统的下压方式只是对待测芯片顶部加压,而这种下压方式可能存在一下问题。由于芯片封装...
李恩张云鹏周扬高勇
文献传递
带涂层金属表面裂纹的微波谐振无损检测技术
针对已涂覆涂层的金属表面裂纹检测,本文提出一种基于开放式同轴腔的微波谐振无损检测技术,对同轴腔开路端辐射场作用下的带涂层金属表面裂纹进行建模分析,根据等效电路模型建立了金属表面裂纹位置、尺寸特征与同轴腔谐振参数之间的关系...
张云鹏李恩刘旭李灿平
关键词:微波无损检测
文献传递
微波波段固态电介质材料介电性能测试 闭腔法
基于同轴腔的薄片复介电常数测试研究
本文提出了一种利用同轴谐振腔进行薄片材料复介电常数测试的方法。设计了一种工作于TEM00n(n=1,2,3)模,测试频率范围为0.3-2GHz的重入式结构同轴谐振腔。基于微扰理论,对聚四氟乙烯、玻璃钢以及纸张进行了测量,...
梁莹余承勇郭高凤李灿平刘尧李恩
关键词:同轴腔微扰法
基于矩形腔的液晶复介电常数测试研究
本文提出了一种利用矩形谐振腔进行液晶材料复介电常数测试的方法。设计了一种工作于TE10(2n-1))(n=4,5,6)模,测试频率范围为28-39GHz的矩形谐振腔。基于微扰理论,我们对聚四氟乙烯,石英以及一种商用NLC...
彭亦童李恩余承勇李灿平刘尧
关键词:液晶材料微扰法
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吸波涂层雷达反射率原位测量技术
2023年
目的为满足吸波涂层在装机条件下雷达反射率原位测量的迫切需求,提出一种基于天线近场测试的雷达反射率原位测量技术。方法设计小型化超宽带天线、收发去耦结构以及屏蔽罩,构建原位测量探头,并与微波扫频模块和数据处理模块集成,研制出雷达反射率手持式宽频测量仪并。结果经对比验证,在−17~0 dB反射率范围以及2~18 GHz频率范围内,该测量仪测量结果与弓形系统测量结果偏差小于1.5 dB。结论该测量仪适用于厚度为1.5 mm以内已涂覆涂层雷达反射率的准确测量。
陈雪飞张云鹏李灿平冯凯袁滔
关键词:吸波涂层雷达反射率
一种薄片材料电磁参数测试装置及方法
本发明提供一种薄片材料电磁参数测试装置及方法,属于微波测试技术领域。包括两个同轴转接头1、两段平行导体墙2、两段微带线3、共地连接块4、待测样品5、导带连接片6、柔性泡沫支撑块7、下压块8、弹簧顶针9、下压夹具10、立座...
张云鹏李恩李亚峰
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一种双重下压微波标贴芯片测试夹具
本实用新型专利提供一种双重下压微波标贴芯片测试夹具,包括第一下压板、弹簧、第二下压板、芯片下压块、引脚下压块、引脚、待测芯片、PCB电路板。第一下压板通过螺丝分别与弹簧相连接,弹簧通过螺丝与芯片下压块相连接,第二下压块通...
李恩张云鹏周扬高勇
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一种基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统
本发明提供了一种基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统,包括调频模块与微波测试模块;调频模块包括环状介质扰动块、夹持杆、环形夹具、滑块、导轨、步进电机;微波测试模块包括重入式同轴腔、耦合旋转调节器、幅相测试模块、程控...
彭亦童李恩李灿平陈天润郭浩东
文献传递
共3页<123>
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