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先锋自动化设备股份有限公司

作品数：31 被引量：0H指数：0
相关机构：日本先锋公司更多>>
相关领域：自动化与计算机技术文化科学更多>>

合作机构

文献类型

  • 31篇中文专利

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇文化科学

主题

  • 8篇发光
  • 7篇移送
  • 7篇晶片
  • 6篇电子元
  • 6篇电子元件
  • 6篇拾取
  • 6篇探测器
  • 6篇晶圆
  • 5篇吸嘴
  • 4篇电子部件
  • 4篇照射
  • 4篇芯片
  • 4篇基板
  • 4篇激光
  • 4篇光电
  • 4篇光电探测
  • 4篇光电探测器
  • 4篇发光中心
  • 4篇安装方法
  • 3篇导光

机构

  • 31篇先锋自动化设...
  • 31篇日本先锋公司

年份

  • 1篇2018
  • 3篇2017
  • 6篇2016
  • 3篇2015
  • 5篇2014
  • 4篇2013
  • 6篇2012
  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 1篇2009
共 31 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
电子元件安装装置及电子元件安装方法
本发明提供一种可使多个等级混在一起安装的电子元件安装装置。本发明的电子元件安装装置(1)具备：电子元件保持桌(11)，其用于保持晶片薄板(200)，该晶片薄板(200)上有呈晶圆状配置的多个不同等级的电子元件(100)；...
望月学坂田义昭清水寿治长谷川弘和渡部贡司须永诚寿郎庄一成小坂浩之
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半导体发光元件检查装置
本发明提供一种可高速地测定半导体发光元件的发光状况，并根据其测定结果检查该半导体发光元件的半导体发光元件检查装置。半导体发光元件检查装置(3)为对从LED(101)发射的发光状况进行检查的LED(101)检查装置(3)，...
望月学藤森昭一广田浩义市川美穗
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部件移送装置及方法
部件移送装置(1)为将保持于保持部(11、200)的多个晶圆状的芯片(100)取出并移送至配置部(21、300)的装置，具有保持芯片的保持部、吸附芯片的吸嘴(31)、保持多个吸嘴并且在保持部和配置部之间移动的移载单元(3...
藤森昭一清水寿治青木秀宪
发光状况测定装置
本发明提供一种高速测定半导体发光元件的发光状况，并能够根据测定结果检查半导体发光元件的发光状况测定装置。一种发光状况测定装置（3），其接收LED（101）所发射的光，并测定发光状况，其特征在于，具有：CCD（105），其...
望月学藤森昭一广田浩义市川美穗
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半导体测定装置以及方法
本发明用于同时测定多个电子部件的电特性。本发明的半导体测定装置(1)具备：搭载单元(100)，搭载多个电子部件(500)；第1移动单元(110)，能够使搭载单元与搭载电子部件的面平行地移动；第1探测器(200)，通过与一...
清水寿治藤森昭一青木秀宪
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元件移送装置及方法
元件移送装置（1）通过吸嘴（31）取出由保持部（11、200）保持有多个的晶片状的芯片（100）。取得单元（19、40）取得保持部上的芯片的位置信息之后，在多个芯片中的第一芯片被吸附之前，再次取得该第一芯片的位置信息，从...
藤森昭一清水寿治青木秀宪
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电子元件安装装置及电子元件安装方法
本发明提供一种可使多个等级混在一起安装的电子元件安装装置。本发明的电子元件安装装置(1)具备：电子元件保持桌(11)，其用于保持晶片薄板(200)，该晶片薄板(200)上有呈晶圆状配置的多个不同等级的电子元件(100)；...
望月学坂田义昭清水寿治长谷川弘和渡部贡司须永诚寿郎庄一成小坂浩之
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电子部件安装数据的生成方法及生成装置
本发明的电子部件安装数据的生成方法，用于将电子部件安装在基板上，该方法包括：基板图像获取步骤，获取基板的安装有电子部件的一侧的图像即基板图像；部件图像获取步骤，获取将电子部件与基板相对着进行安装的一侧的图像左右反转或上下...
樱井靖男樱井嗣人
光特性测定装置
本发明提供一种能够得到更精确的测定值的光特性测定装置。本发明的光特性测定装置(1)具备：积分球(2)，其具有用于漫反射入射光的积分球内部表面(3a)；以及导光部，其使由测定对象物(101)出射的光通过并反射、导光至所述积...
望月学藤森昭一
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电子元件安装装置及电子元件安装方法
本发明提供一种电子元件安装装置及电子元件安装方法，所述电子元件安装装置具备：电子元件保持工作台，其用来保持晶片带；电子元件信息存储部，其存储由电子元件的位置信息与所述电子元件的等级信息组成的电子元件信息；移送头，其从晶片...
望月学坂田义昭清水寿治长谷川弘和渡部贡司须永诚寿郎庄一成小坂浩之藤森昭一广田浩义
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