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沈阳市光明电工仪器厂

作品数：1 被引量：1H指数：1
相关作者：张浩更多>>
相关机构：辽宁公安司法管理干部学院中国电子科技集团公司第四十七研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作机构

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇可靠性
  • 1篇集成电路
  • 1篇CMOS集成
  • 1篇CMOS集成...
  • 1篇DDQ
  • 1篇IDDQ测试
  • 1篇I

机构

  • 1篇辽宁公安司法...
  • 1篇沈阳市光明电...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 1篇王忆
  • 1篇张磊
  • 1篇张浩

传媒

  • 1篇微处理机

年份

  • 1篇2007
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
浅谈CMOS集成电路的I_(DDQ)测试被引量：1
2007年
介绍了IDDQ测试的基本原理和主要测试方法,CMOS IC本质上是电流可测试的,IDDQ测试可有效地提高产品质量,降低芯片生产价格,并且它对失效响应分析(FEA)是非常有用的。
张磊王忆张浩
关键词：IDDQ测试可靠性
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共1页<1>
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