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山西省自然科学基金(200330)
作品数:
1
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相关作者:
王辉
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刘淑平
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磁控溅射SiGe异质结的薄膜分析
被引量:1
2007年
膜层生长不均匀是制备SiGe异质结的研究热点。采用射频磁控溅射方法,通过不断改变溅射时的实验参数,寻找能使Ge纳米薄膜在Si基片上均匀生长的溅射实验条件。实验中,在不同时间条件下分别制备了三种纳米Ge薄膜,通过原子力显微镜对其微观形貌的分析扫描,可以观察到纳米薄膜生长过程中的四个典型阶段,发现Ge/Si的共度生长取得了较好的结果,为SiGe异质结的进一步制备研究奠定了一定的实验基础。
王辉
杨型健
刘淑平
关键词:
异质结
射频磁控溅射
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