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安徽省自然科学基金(KJ2010A342)

作品数:2 被引量:7H指数:1
相关作者:刘雁飞陈宗祥葛芦生束林潘三博更多>>
相关机构:安徽工业大学安阳师范学院更多>>
发文基金:安徽省自然科学基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇低压大电流
  • 1篇损耗
  • 1篇损耗分析
  • 1篇损耗模型
  • 1篇驱动电路
  • 1篇结型
  • 1篇结型场效应
  • 1篇禁带
  • 1篇晶体管
  • 1篇晶体管特性
  • 1篇宽禁带
  • 1篇功率晶体管
  • 1篇变换器
  • 1篇SIC
  • 1篇BUCK变换...
  • 1篇MOSFET
  • 1篇MOSFET...
  • 1篇场效应

机构

  • 1篇安徽工业大学
  • 1篇安阳师范学院

作者

  • 1篇潘三博
  • 1篇束林
  • 1篇葛芦生
  • 1篇陈宗祥
  • 1篇刘雁飞

传媒

  • 1篇电力电子技术
  • 1篇电力自动化设...

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
基于电流源驱动的MOSFET管损耗模型及分析被引量:7
2010年
对于以电压源方式驱动功率MOSFET管,随着开关频率的提高,其开关损耗将显著增加。以此为切入点对电流源驱动功率MOSFET管进行了研究。在对电流源驱动MOSFET管原理性分析的基础上,通过详细地分析功率MOSFET管的开关过程,建立MOSFET管开关损耗模型,求解得到漏极电流、漏源电压与栅源电压之间关系,证明了电流源驱动在减少开关时间和开关损耗上的优越性。在开关频率为1 MHz、输入电压为12 V、输出电压和电流分别为1.3 V和25 A的低压大电流实验平台上进行了验证,实验结果证明了所提出的MOSFET管损耗模型的正确性。
陈宗祥束林刘雁飞葛芦生
关键词:MOSFET损耗分析BUCK变换器低压大电流
SiC结型场效应功率晶体管特性及其驱动设计
2012年
SiC结型场效应功率晶体管(JFET)是目前较成熟的宽禁带功率半导体,具有良好的电气性能。但在使用过程中,JFET存在常态下开通的特性与开关时du/dt对驱动电压影响较大的问题。在分析器件等效电路的基础上,从理论上讨论了du/dt对驱动电压的影响,并提出一种驱动电路。该驱动电路采用电平转化电路及有源吸收电路,实现了控制电路信号与SiC器件驱动信号逻辑电平匹配;同时,在高速开关时,能有效减小容性电流对驱动电压的影响,可靠开关SiC器件。最后,给出了驱动信号、驱动电压变化及器件开关过程的实验波形,证明了驱动电路的有效性。
李正力潘三博陈宗祥
关键词:宽禁带驱动电路
共1页<1>
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