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河北省科技攻关计划(02213506D)

作品数:2 被引量:39H指数:1
相关作者:韦志仁吴峰王立明林琳葛世艳更多>>
相关机构:河北大学更多>>
发文基金:河北省科技攻关计划河北省自然科学基金更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学

主题

  • 1篇对光
  • 1篇水热
  • 1篇水热法
  • 1篇水热条件
  • 1篇体缺陷
  • 1篇热法
  • 1篇热释光
  • 1篇温差
  • 1篇晶体
  • 1篇晶体缺陷
  • 1篇晶体生长
  • 1篇光电
  • 1篇光电子
  • 1篇过饱和度
  • 1篇ZNS

机构

  • 2篇河北大学

作者

  • 2篇韦志仁
  • 1篇王立明
  • 1篇董国义
  • 1篇郑一博
  • 1篇田少华
  • 1篇葛世艳
  • 1篇林琳
  • 1篇吴峰

传媒

  • 1篇河北大学学报...
  • 1篇发光学报

年份

  • 1篇2006
  • 1篇2002
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
水热条件下影响晶体生长的因素被引量:38
2002年
着重对水热法生长晶体过程中的影响因素进行了分析 .高压釜内温度分布、溶液 (或溶剂 )填充度、浓度和 pH值、杂质等会对生成晶体的形状、结构、颜色、生长速度、晶体缺陷和晶体质量产生影响 .
王立明韦志仁吴峰
关键词:晶体生长水热法温差过饱和度晶体缺陷
ZnS中电子陷阱能级对光生电子弛豫过程的影响被引量:1
2006年
采用微波吸收法,测量了在不同助熔剂条件及不同气氛下烧制的ZnS材料受到超短激光脉冲激发后的光电子衰减过程,并且测量了材料的热释光曲线。样品A采用过量的SrCl作为助熔剂,在1150℃下灼烧制备而成;其热释光曲线显示材料中有浅电子陷阱,电子陷阱密度小,光生电子衰减过程为双指数衰减过程,快过程寿命为45ns,慢过程寿命为312ns。样品B中加入了少量的NaCl作为助熔剂;热释光曲线显示有浅电子陷阱和深电子陷阱,且都有较高的密度,其光电子寿命为1615ns。在NH4Br气氛中烧制样品C,热释光谱显示只有浅电子陷阱形成,光电子寿命为1413ns。结果表明材料的光电子寿命和浅电子陷阱密切相关,浅电子陷阱密度越大,光生电子寿命越长,深电子陷阱对光生电子瞬态过程影响很小。
董国义窦军红韦志仁葛世艳郑一博林琳田少华
关键词:ZNS热释光光电子
共1页<1>
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