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NSAF联合基金(10476025)

作品数:1 被引量:3H指数:1
相关作者:聂传继侯晶李瑞洁张清华王健更多>>
相关机构:成都精密光学工程研究中心浙江大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金NSAF联合基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇光学
  • 1篇光学元件
  • 1篇光学元器件
  • 1篇粗糙度

机构

  • 1篇浙江大学
  • 1篇成都精密光学...

作者

  • 1篇许乔
  • 1篇项震
  • 1篇王健
  • 1篇张清华
  • 1篇李瑞洁
  • 1篇侯晶
  • 1篇聂传继

传媒

  • 1篇光学精密工程

年份

  • 1篇2007
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
化学刻蚀的光学元件面形修复被引量:3
2007年
采用化学加工方法对光学元器件进行面形加工,可以避免传统的抛光工艺带来的亚表面缺陷和表面污染。实验中利用Marangoni界面效应有效控制化学液的驻留时间和驻留面积,并通过数控系统实现编程控制加工,进行了面形修复实验,利用轮廓仪测量了加工前后的表面粗糙度。结果表明,采用拼接小去除量多次加工的方法,有效地降低了面形误差,面形值由1.32λ(λ=632 nm)减少到0.66λ,粗糙度基本维持不变。利用此实验装置使基片面形得到修复,避免了传统加工方式带来的亚表面缺陷等问题,有利于强激光系统的使用。
项震侯晶聂传继许乔张清华王健李瑞洁
关键词:光学元器件粗糙度
共1页<1>
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