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国防科技技术预先研究基金(51311060403)

作品数:2 被引量:2H指数:1
相关作者:刘敏波张勇黄绍艳肖志刚唐本奇更多>>
相关机构:西北核技术研究所北京大学更多>>
发文基金:国防科技技术预先研究基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇电荷耦合
  • 2篇电荷耦合器
  • 2篇电荷耦合器件
  • 1篇电离辐射
  • 1篇电离辐射损伤
  • 1篇电离辐射效应
  • 1篇质子
  • 1篇质子辐照
  • 1篇静电加速器
  • 1篇加速器

机构

  • 2篇西北核技术研...
  • 1篇北京大学

作者

  • 2篇王祖军
  • 2篇唐本奇
  • 2篇肖志刚
  • 2篇黄绍艳
  • 2篇张勇
  • 2篇刘敏波
  • 1篇巩玲华
  • 1篇任晓堂

传媒

  • 1篇电子学报
  • 1篇原子能科学技...

年份

  • 2篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
电荷耦合器件电离辐射损伤的模拟试验研究被引量:1
2010年
利用钴-60源,在不同工作与辐照条件下,开展电荷耦合器件电离辐射损伤模拟试验,分析高低剂量率、器件偏置对器件暗电流信号增大和哑元电压漂移的影响,比较电荷耦合器件光敏单元、输出放大器总剂量效应的敏感性,研究辐射敏感参数与失效模式的差异.为建立电荷耦合器件电离辐射效应规范化的模拟试验与加固评估方法,提供技术基础.
唐本奇王祖军刘敏波肖志刚张勇黄绍艳
关键词:电荷耦合器件电离辐射效应
电荷耦合器件质子辐照效应研究被引量:1
2010年
利用2×6 MV串列静电加速器提供的1~10 MeV质子,开展了线阵电荷耦合器件辐射损伤效应的模拟试验和测量,研制了加速器质子扩束扫描装置及电荷耦合器件辐射敏感参数测量系统,建立了电荷耦合器件质子辐射效应的模拟试验方法,分析了质子注量、质子能量、器件偏置等对器件电荷转移效率和暗电流的影响。模拟试验结果表明,电荷转移效率随辐照质子注量的增加而下降,暗电流随辐照质子注量的增加而增大,在1~10 MeV质子能量范围内,质子能量越低,电荷转移效率的降低与暗电流的增加越显著。
唐本奇刘敏波王祖军肖志刚张勇黄绍艳任晓堂巩玲华
关键词:静电加速器电荷耦合器件
共1页<1>
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