国家自然科学基金(10275006)
- 作品数:8 被引量:6H指数:2
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- 相关机构:北京师范大学中国科学院大气物理研究所更多>>
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- 北京大气颗粒物特性的变化
- 对1985年以来用八级采样器采集、用PIXE分析法测得的部分元素浓度数据进行了分析,发现铅的粒径分布在这些年中发生了明显变化,这一变化反映了其来源的变化;硫的粒径分布一直呈现燃煤来源的特征;硅的粒径分布在尘暴前,远处尘暴...
- 朱光华王广甫张仁健
- 关键词:大气颗粒物粒径分布
- 文献传递
- 气溶胶样品氢含量的质子弹性散射分析
- 2007年
- 利用单个标准样品比较法质子弹性散射分析(PESA)对一组采集在核孔膜上的气溶胶样品的氢含量进行定量分析。在质子束能量为2.5MeV、散射角为40°时,PESA测量10μm厚核孔膜上气溶胶中H含量的探测限为0.36μg/cm^2。几个样品H含量的测量结果在3.2~37.5μg/cm^2之间,显著高于探测限。质子能量在1.0~2.5MeV范围内,3.5/μm Mylar膜的束流归一化H峰面积随入射质子能量的变化在±3%以内。所以,不同厚度的气溶胶样品可采用同一个标准样品来进行PESA测量。
- 王广甫鲁永芳朱光华
- 关键词:气溶胶探测限
- 质子透射能量损失(PTEL)测量气溶胶样品面密度
- 2006年
- 通过用配有小孔光栏的探测器测量能量为2 MeV、束斑直径为4 mm的质子束透过气溶胶样品的能量损失(proton transmission energy losses,PTEL)谱,然后利用代表性的气溶胶元素组分和C5H9O2N有机物能量损失靶模型计算气溶胶对质子的阻止截面.在扣除气溶胶样品mylar膜衬底中质子能量损失时,分别采用了质子穿过空白mylar膜能量损失近似法和迭代法.不同模型和近似方法下PTEL测量和称量结果之间的误差大都在10%以内.
- 王广甫朱光华
- 用核分析技术研究北京大气颗粒物特性
- 2006年
- 用PIXE分析技术结合分级采样器测量了正常天气、远处沙尘暴到达时和局地扬尘起来时北京的大气颗粒物粒径分布谱,与时间序列自动采样器相结合,得到了大气颗粒物浓度随时间的变化,通过受体模型计算得到大气颗粒物来源及其贡献率。
- 朱光华王广甫张仁健
- 关键词:大气颗粒物粒径分布
- 质子非卢瑟福背散射测量气溶胶样品中氢、碳、氮和氧的含量被引量:2
- 2007年
- 气溶胶样品中Z>12以上元素含量的质子荧光(PIXE)分析是北京师范大学GIC4117串列加速器的主要应用领域之一。为弥补PIXE无法分析H、C、N和O等轻元素之不足,在PIXE靶室160°散射角安装金硅面垒探测器,用质子非卢瑟福背散射分析(PNBS)方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行测量。测量得到的气溶胶样品中H和Si元素含量与质子前角散射(PESA)和PIXE的分析结果相近,表明PNBS可用于核孔膜采集的气溶胶样品的分析。
- 王广甫鲁永芳朱光华
- 关键词:质子气溶胶H
- 质子弹性散射分析方法测量mylar膜上气溶胶样品的氢含量
- 2006年
- 利用标准样品比较法质子弹性散射分析(PESA)对一组采集在mylar膜上的气溶胶样品氢含量进行了定量分析.在质子束能量2.5 MeV,散射角50°时,PESA测量5μm mylar膜上气溶胶中氢含量的探测限为0.26μg·cm^-2,几个样品氢含量的测量结果在1.9~12.7μg·cm^-2之间,大大高于探测限.
- 王广甫鲁永芳朱光华
- 关键词:气溶胶氢含量
- 大气颗粒物采样膜本底值的研究被引量:2
- 2006年
- 用PIXE分析技术对6种在大气颗粒物采样中常用的膜(特弗纶膜,瓦特门膜,核孔膜,迈拉膜,聚氯乙烯膜和石英膜)的本底杂质元素的含量进行了测定.结果表明一些膜中含有PIXE分析灵敏元素(即原子序数Z≥12)的量极低,它们对大气颗粒物分析结果的影响可以忽略,一些膜中的含量不能忽略,一些膜不适合用于PIXE分析.
- 朱光华
- 关键词:大气颗粒物
- 用核分析技术研究北京大气颗粒物特性
- 用PIXE分析技术结合分级采样器测量了正常天气、远处沙尘暴到达时和局地扬尘起来时北京的大气颗粒物粒径分布谱,与时间序列自动采样器相结合,得到了大气颗粒物浓度随时间的变化,通过受体模型计算得到大气颗粒物来源及其贡献率。
- 朱光华王广甫张仁健
- 关键词:大气颗粒物粒径分布
- 文献传递
- 北京大气颗粒物特性的变化被引量:2
- 2004年
- 对1985年以来用八级采样器采集、用PIXE分析法测得的部分元素浓度数据进行了分析,发现铅的粒径分布在这些年中发生了明显变化,这一变化反映了其来源的变化;硫的粒径分布一直呈现燃煤来源的特征;硅的粒径分布在尘暴前,远处尘暴到达时和本地尘暴起来时有明显的变化.
- 朱光华
- 关键词:大气颗粒物粒径分布
- 北师大串列加速器在气溶胶离子束分析上的新进展
- 2007年
- 气溶胶样品中Z>12元素含量的质子X射线荧光分析是北师大GIC4117串列加速器的主要应用领域之一。为弥补该方法不能分析H、C、N和O等轻元素之不足,我们通过在PIXE靶室40°和160°散射角安装金硅面垒探测器,用质子前角弹性散射分析和非卢瑟福背散射方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行了测量。
- 王广甫鲁永芳朱光华
- 关键词:气溶胶