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国家高技术研究发展计划(2003AA782032)

作品数:2 被引量:22H指数:2
相关作者:赵葆常阮萍马小龙李福杨建峰更多>>
相关机构:中国科学院更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:机械工程理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇机械工程
  • 1篇理学

主题

  • 1篇有限元
  • 1篇有限元分析
  • 1篇特性分析
  • 1篇通量
  • 1篇技术方法
  • 1篇光谱仪
  • 1篇飞行
  • 1篇飞行试验
  • 1篇干涉成像
  • 1篇干涉成像光谱...
  • 1篇ZERNIK...
  • 1篇成像光谱
  • 1篇成像光谱仪

机构

  • 2篇中国科学院

作者

  • 2篇阮萍
  • 2篇赵葆常
  • 1篇李福
  • 1篇杨建峰
  • 1篇马小龙

传媒

  • 1篇光子学报
  • 1篇应用光学

年份

  • 2篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
干涉成像光谱仪的通量特性分析被引量:4
2007年
针对高分辨率成像光谱仪的应用要求,对大孔径静态干涉成像光谱仪在不同光照条件下进行了计算分析,表明这种成像光谱仪在能量利用率方面有明显优势.研制仪器的机载飞行试验结果表明,虽然机载试验在2004年12月份进行,太阳高度角在全年中最小,但是图像的个别地方仍会饱和.机载飞行试验进一步验证了干涉成像光谱仪的高通量特性,同时也说明,仪器的地元分辨率指标还有提高的潜力.
阮萍杨建峰赵葆常
关键词:干涉成像光谱仪飞行试验
用Zernike多项式实现光机分析的技术方法被引量:18
2007年
由于光学软件不能直接利用有限元分析的结果,而Zern ike多项式的各项与光学像差有对应关系,因此常用Zern ike多项式作为光机接口。针对目前常用轴向位移作为拟合量描述拟合面形的不足,给出了几种常用的表面位移校正方法并说明了其优缺点。用具体实例比较各校正位移,并对其进行Zern ike多项式拟合,从拟合系数的差异可以看出,曲率比较大的表面必须采用校正位移进行拟合。最后指出:在不知道初始表面方程的情况下,轴向和法向校正位移均采用从初始表面出发的方法,如果已知初始表面方程,则轴向校正位移采用从变形表面出发的方法,法向校正位移仍采用从初始表面点出发进行计算。
李福阮萍马小龙赵葆常
关键词:有限元分析ZERNIKE多项式
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