国家教育部博士点基金(20020610019)
- 作品数：4 被引量：8H指数：2
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- 相关机构：四川大学电子科技大学中国工程物理研究院更多>>
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- 相关领域：理学核科学技术更多>>
- Si(Li)探测器低能区的效率刻度被引量：2
- 2006年
- 通过测量19 keV电子束轰击厚碳靶产生的韧致辐射能谱,在低能区(>1 keV)对Si(Li)探测器进行了探测效率刻度。厚碳靶的理论韧致辐射能谱由Monte-Carlo程序PENELOPE计算,并用241Am标准放射源确定出效率刻度曲线的绝对值。采用本工作的刻度方法确定的效率刻度曲线误差主要来源于用标准放射源绝对化的误差,约为5%。将所得初步实验结果与理论计算值进行了比较,并采用最小二乘法对探测器各厚度参数进行了拟合,除Au接触层厚度外,拟合的各厚度值与探测器生产商提供的数据较为吻合。
- 安竹刘慢天吴英段艳敏
- 关键词：MONTE-CARLO方法
- 蒙特卡罗方法在低能电子致原子内壳层电离截面测量中的应用被引量：1
- 2006年
- 在Monte Carlo方法模拟keV电子碰撞薄膜/厚衬底靶过程中,输入材料数据中采用的内壳层电离截面数据不同,得到的反映膜厚及衬底对电离截面测量结果影响的修正因子值也有差别。讨论了Monte Carlo模拟得到的修正因子值受输入材料数据中内壳层电离截面影响的程度,并完成了入射keV电子在法拉第筒中逃逸率的估算工作。
- 吴英安竹
- 关键词：MONTECARLO模拟修正因子
- 原子内壳层电离截面研究中薄靶厚度的卢瑟福背散射分析被引量：4
- 2004年
- 作者使用241Amα标准源与卢瑟福背散射相结合的方法,对四川大学原子核科学技术研究所的2.5MeV静电加速器进行了能量刻度,并利用卢瑟福背散射方法测量了一系列Al衬底金属薄靶的厚度,所测结果与称重法进行了比较.作者将卢瑟福背散射方法所测厚度值运用到电子碰撞引起原子内壳层电离截面的测量工作中,取得了满意的结果.
- 段艳敏吴英唐昶环刘东剑丁庆平刘慢天安竹
- 关键词：能量刻度电子碰撞
- 电子碰撞Ag的L壳层电离截面的测量被引量：1
- 2004年
- 作者用Si(Li)探测器测量了能量为 5～ 2 2keV的电子碰撞Ag的L壳总平均电离截面 ;用MonteCarlo方法计算的电子反射能谱 ,修正了来自衬底的反射电子对测量结果的影响 作者对实验结果与Cryzinski的理论计算结果进了比较 .
- 刘慢天段艳敏吴英安竹罗正明彭秀峰
- 关键词：AG电子碰撞
