国家自然科学基金(61006033)
- 作品数：2 被引量：1H指数：1
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- 采用多维相似性的测试压缩
- 未来的纳米电路测试需要更先进的测试压缩技术,本文探讨一种采用多维相似性测试图形的压缩方法。先提出两个种子向量的多维线性解压方法,以构成多维相似性测试图形;再研究多维相似性测试图形序列的约束条件,以构成最大长度序列;然后研...
- 雷绍充梁峰张路文王震刘泽叶
- 关键词：低功耗
- 文献传递
- 一种易于线性压缩的测试图形生成方法
- 2010年
- 为解决VLSI测试中数据量大、功耗高和故障检测难等问题,提出一种易于线性压缩的测试图形生成方法(LCG法).与传统方法不同,LCG法先解析出一类每个向量内部具有线性关系的测试序列,这种线性关系是基于单输入变化序列的,构成的测试序列可有效地减少被测电路内部的开关活动.测试生成时只需搜索测试向量少量的位值,其他位的值按预定义的线性关系解析出,再通过故障模拟的方法确认测试图形.压缩后的测试图形为其少量位的内容,具有压缩率高、易于实现、功耗低和覆盖率高的特点.对ISCAS89中5个最大的基准电路的实验结果表明,LCG法在固定故障覆盖率大于96%的情况下,压缩率都在10倍以上,甚至可以达到100倍以上.
- 曹磊雷绍充王震梁峰
- 关键词：低功耗
- 一种低功耗测试图形的生成方法被引量：1
- 2013年
- 为解决测试图形生成电路功耗高、硬件开销大、故障检测难等问题,提出了一种用于内建自测试的低功耗测试图形生成方法。该方法将种子向量和SIC计数器生成向量进行运算,产生MSIC测试向量。通过设计一种可配置SIC计数器和种子生成电路,证明了该方法中任意的2个MSIC图形在任何情况下都是相异的。以国际基准测试电路ISCAS’89为对象,在nangate 45nm工艺上的仿真实验表明,基于该方法的测试生成电路的平均功耗占被测电路正常工作时平均功耗的1%～3%;与传统的伪随机测试生成电路相比,该测试生成电路的测试功耗降低了5.48%～66.86%,且其所生成的测试图形具有唯一性、低跳变等特性。
- 张国和冀丽丽张林林雷绍充梁峰
- 关键词：内建自测试低功耗
