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福建省重点科技计划项目(2006H0036)

作品数:4 被引量:25H指数:3
相关作者:赖虹凯陈松岩李成周志文蔡志猛更多>>
相关机构:厦门大学集美大学中国科学院更多>>
发文基金:福建省重点科技计划项目国家自然科学基金教育部留学回国人员科研启动基金更多>>
相关领域:电子电信机械工程更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇机械工程

主题

  • 2篇探测器
  • 2篇光电
  • 2篇光电探测
  • 2篇光电探测器
  • 2篇
  • 1篇特性分析
  • 1篇外延层
  • 1篇位错
  • 1篇金属-半导体...
  • 1篇硅基
  • 1篇干法
  • 1篇半导体
  • 1篇SI基
  • 1篇UHV/CV...
  • 1篇MSM光电探...
  • 1篇波导
  • 1篇SIGE

机构

  • 4篇厦门大学
  • 1篇集美大学
  • 1篇中国科学院

作者

  • 4篇李成
  • 4篇陈松岩
  • 4篇赖虹凯
  • 3篇周志文
  • 2篇蔡坤煌
  • 2篇张永
  • 2篇蔡志猛
  • 1篇余金中
  • 1篇林桂江
  • 1篇汪建元
  • 1篇周笔
  • 1篇陈荔群
  • 1篇王启明

传媒

  • 2篇光电子.激光
  • 2篇Journa...

年份

  • 1篇2009
  • 2篇2008
  • 1篇2007
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
UHV/CVD法生长硅基低位错密度厚锗外延层被引量:6
2008年
采用超高真空化学气相淀积系统,以高纯Si2H6和GeH4作为生长气源,用低温缓冲层技术在Si(001)衬底上成功生长出厚的纯Ge外延层.对Si衬底上外延的纯Ge层用反射式高能电子衍射仪、原子力显微镜、X射线双晶衍射曲线和Ra-man谱进行了表征.结果表明在Si基上生长的约550nm厚的Ge外延层,表面粗糙度小于1nm,XRD双晶衍射曲线和Ra-man谱Ge-Ge模半高宽分别为530″和5.5cm-1,具有良好的结晶质量.位错腐蚀结果显示线位错密度小于5×105cm-2.可用于制备Si基长波长集成光电探测器和Si基高速电子器件.
周志文蔡志猛张永蔡坤煌周笔林桂江汪建元李成赖虹凯陈松岩余金中王启明
关键词:
干法氧化制备SiGe弛豫缓冲层及其表征被引量:2
2007年
SiGe弛豫缓冲层是高性能Si基光电子与微电子器件集成的理想平台.通过1000℃干法氧化组分均匀的应变Si0.88Ge0.12层,在Si衬底上制备了表面Ge组分大于0.3,弛豫度大于95%,位错密度小于1.2×105cm-2的Ge组分渐变SiGe弛豫缓冲层.通过对不同氧化时间的样品的表征,分析了氧化过程中SiGe应变弛豫的主要机制.
蔡坤煌张永李成赖虹凯陈松岩
关键词:位错
Si基Ge波导光电探测器的制备和特性研究被引量:10
2009年
以外延Ge薄膜为吸收区,在Si基上制备了Ge波导光电探测器。利用超高真空化学汽相淀积(UHV/CVD)设备,采取低温高温两步法,在Si(100)衬底上外延出厚度约为500nm的高质量纯Ge层。探测器采用脊型波导结构,Al电极分别制作在波导的台面上下形成背对背肖特基结。I-V特性测试表明,在-1V偏压下,暗电流密度为0.2mA/cm2。由于Si与Ge热失配引起外延的Ge薄膜受到0.2%张应变,减小了Ge带隙,光响应波长范围扩展到1.60μm以上。在70mW、1.55μm入射光照射下,测得光电流比暗电流高出近1个数量级。
陈荔群周志文李成赖虹凯陈松岩
关键词:波导光电探测器
硅基外延锗金属-半导体-金属光电探测器及其特性分析被引量:8
2008年
利用超高真空化学汽相淀积(UHV/CVD)设备,以低温下生长的薄的Si1-xGex和Ge作为缓冲层,在Si(100)衬底上外延出表面平整(粗糙度<1 nm)、位错密度低(<5×105cm-2、厚度约为500 nm的高质量纯Ge层。Ge层受到由于Si和Ge热膨胀系数不同引入的张应变,应变大小约为0.2%。以外延的Ge层为吸收区、在硅基上制备了台面面积为195×150μm2的金属-半导体-金属(MSM)光电探测器。在-1 V偏压下,暗电流为2.4×10-7A;在零偏压下,光响应波长范围扩展到1.6μm以上。
蔡志猛周志文李成赖虹凯陈松岩
关键词:MSM光电探测器
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