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国家高技术研究发展计划(2008AA8050701)

作品数:2 被引量:7H指数:2
相关作者:张路肖山竹贺兴华张开锋卢焕章更多>>
相关机构:国防科学技术大学中国人民解放军中国人民解放军69026部队更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信航空宇航科学技术更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇航空宇航科学...

主题

  • 2篇容错
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子效应
  • 1篇性能仿真
  • 1篇性能仿真分析
  • 1篇循环码
  • 1篇容错方法
  • 1篇失效率
  • 1篇静态存储器
  • 1篇可靠性
  • 1篇存储器
  • 1篇改进型

机构

  • 2篇国防科学技术...
  • 1篇中国人民解放...
  • 1篇中国人民解放...

作者

  • 2篇卢焕章
  • 2篇张开锋
  • 2篇贺兴华
  • 2篇肖山竹
  • 2篇张路

传媒

  • 1篇宇航学报
  • 1篇信号处理

年份

  • 2篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
基于改进型(14,8)循环码的SRAM型存储器多位翻转容错技术研究被引量:5
2010年
SRAM型存储器空间应用通常采取纠一检二(SEC-DED)的方法,克服空间单粒子翻转(SEU)对其产生的影响。随着SRAM型存储器工艺尺寸的减小、核心电压的降低,空间高能粒子容易引起存储器单个基本字多位翻转(SWMU),导致SEC-DED防护方法失效。在研究辐射效应引起的SRAM型存储器多位翻转模式特点的基础上,提出一种基于改进型(14,8)循环码的系统级纠正一位随机错和两位、三位突发错同时检测随机两位错(SEC-DED-TAEC)的系统级容错方法。基于该方法的存储器系统容错设计具有实现简单、实时性高的特点,已成功应用于某型号空间自寻的信息处理系统。仿真试验及实际应用表明,该方法可以有效防护SRAM型存储器件SWMU错误,有效提高了空间信息处理系统可靠性,可以为其它空间电子系统设计提供参考。
贺兴华卢焕章肖山竹张路张开锋
关键词:静态存储器容错可靠性
两种系统级单粒子效应容错方法性能仿真分析被引量:2
2010年
基于VLSI的信息处理系统空间应用时容易遭受单粒子翻转效应(SEU:Single Event Upset)的影响。基于结构冗余的三模冗余(TMR:Three Module Redundancy)和基于信息冗余的错误检纠错(EDAC:Error Detection and Correction)是两种常见的系统级抗单粒子翻转的容错方法,被广泛应用于空间信息处理系统中。从可靠性改进、存储资源占用、硬件实现代价以及实现延时等四个方面,对两种方法进行了性能分析和仿真实验。性能分析和仿真实验结果表明,EDAC方法适合应用于基本数据宽度较大、存储资源受限、实时性要求不高的应用中,结构TMR方法适合应用于基本数据宽度较小、存储资源充足、实时性要求较高的应用中。
贺兴华肖山竹张开锋张路卢焕章
关键词:容错失效率
共1页<1>
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