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绍兴市科技计划项目(2009A21054)

作品数:2 被引量:1H指数:1
相关作者:黄仕华马锡英丁澜楼曹鑫更多>>
相关机构:浙江师范大学苏州科技学院更多>>
发文基金:绍兴市科技计划项目国家自然科学基金更多>>
相关领域:一般工业技术理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 1篇电磁
  • 1篇电磁特性
  • 1篇电学
  • 1篇形貌
  • 1篇原子力显微镜
  • 1篇退火
  • 1篇纳米
  • 1篇纳米传感器
  • 1篇纳米机电系统
  • 1篇感器
  • 1篇I-V
  • 1篇传感
  • 1篇传感器

机构

  • 2篇苏州科技学院
  • 2篇浙江师范大学

作者

  • 2篇丁澜
  • 2篇马锡英
  • 2篇黄仕华
  • 1篇楼曹鑫

传媒

  • 1篇微纳电子技术
  • 1篇苏州科技学院...

年份

  • 1篇2011
  • 1篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
锗/硅量子点形貌随退火温度的变化与电学特性研究
2011年
研究了锗(Ge)量子点薄膜表面形貌随退火温度的变化及其相应的电学特性。以锗烷为主要反应气体,应用等离子增强化学气相沉积法(PECVD)在300℃温度、p-硅(100)基片上沉积了锗量子点薄膜,然后分别在400℃、500℃、600℃温度下退火。应用原子力显微镜(AFM)系统地观察了锗量子点薄膜的二维、三维图像,发现原位生长的锗量子点尺寸起伏大、薄膜表面比较粗糙。退火后,锗量子点分布趋于均匀,并且随退火温度的升高,量子点呈一定的取向排列,表面变得平整。通过电流-电压(I-V)和电容-电压(C-V)测试,发现锗量子点薄膜具有良好的电学特性。随退火温度的升高,电流、电容显著增大,漏电流减小,说明退火后,锗量子点薄膜晶界和粗糙度减小,使样品的表面、界面特性更好。
楼曹鑫丁澜马锡英黄仕华
关键词:退火形貌原子力显微镜I-V
SiGe纳米环的制备与电磁特性研究进展被引量:1
2010年
SiGe纳米环、纳米螺绕环具有优异的电学、力学等性质,已成为非常重要的三维半导体纳米材料,在传感器、纳米电子学及纳机电系统中具有广阔的应用前景。简单介绍了制备SiGe纳米环、纳米螺绕环的方法,包括化学气相沉积法、分子束外延法和脉冲激光法,并介绍了SiGe纳米环形成的主要原因和相关的应用。SiGe纳米环是在Si和Ge间的横向应力作用下形成的,这种纳米环的电导对纳米环的曲率和外加磁场非常敏感。在外加磁场恒定的情况下,电导随曲率的增大而逐渐减小;当达到某一临界点后,又随曲率的增大而逐渐增大。可以应用外加电压控制SiGe纳米环的弯曲程度,成为纳米尖、黏性探头、挂钩和原子力显微镜悬臂梁等应用于纳米传感器、纳米探头及纳米机电系统中。
丁澜马锡英黄仕华
关键词:纳米机电系统纳米传感器
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