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模拟集成电路国家重点实验室开放基金(9140C09040206DZ0101)

作品数:2 被引量:48H指数:2
相关作者:贾新章游海龙张玲范菊平更多>>
相关机构:西安电子科技大学教育部西北核技术研究所更多>>
发文基金:模拟集成电路国家重点实验室开放基金更多>>
相关领域:理学一般工业技术电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 1篇遗传算法
  • 1篇双极型
  • 1篇双极型晶体管
  • 1篇晶体管
  • 1篇基于遗传算法
  • 1篇高功率微波
  • 1篇KRIGIN...

机构

  • 2篇西安电子科技...
  • 1篇教育部
  • 1篇西北核技术研...

作者

  • 2篇贾新章
  • 1篇游海龙
  • 1篇范菊平
  • 1篇张玲

传媒

  • 1篇强激光与粒子...
  • 1篇计算机辅助设...

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2007
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
基于遗传算法的Kriging模型构造与优化被引量:27
2007年
相关模型参数的确定是Kriging模型构造的关键,讨论了利用传统数值优化方法,如模式搜索方法,确定相关参数存在依赖搜索起始点等缺点;利用遗传算法获得满足目标函数全局最小情况下的相关模型参数,解决了模型的构造对起始点依赖的问题;将遗传算法与改进后的Kriging模型结合,基于近似模型对系统进行全局最优化.
游海龙贾新章
关键词:遗传算法
双极型晶体管高功率微波的损伤机理被引量:21
2010年
在模拟集成电路的抗高功率微波加固研究中,对电路中的单个晶体管进行高功率微波损伤机理研究。对晶体管进行洲入微波损伤效应实验和失效分析,得到了双极型晶体管损伤的基本规律。损伤效应实验采用注入法,分别从晶体管的三极注入微波,得到了损伤结果。对样品进行的失效分析探明了器件的损伤部位和失效机理。结果表明,高功率微波注入主要造成B-E结的退化和损伤;从基极注入微波最易损伤晶体管,而从集电极注入则相反。
范菊平张玲贾新章
关键词:高功率微波晶体管
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