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浙江省科技厅项目(2007C111042)

作品数:5 被引量:12H指数:3
相关作者:盛嘉伟张俭严俊方伟胡仙超更多>>
相关机构:浙江工业大学浙江省质量检测科学研究院更多>>
发文基金:浙江省科技厅项目浙江省科技厅公益技术研究社会发展项目浙江省大学生科技创新项目更多>>
相关领域:天文地球化学工程更多>>

文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 4篇天文地球
  • 1篇化学工程

主题

  • 4篇叶腊石
  • 4篇透射电镜
  • 4篇高分辨透射电...
  • 3篇扫描电镜
  • 3篇微结构
  • 1篇单斜晶系
  • 1篇选区电子衍射
  • 1篇叶蜡石
  • 1篇喷雾干燥
  • 1篇球磨
  • 1篇球形
  • 1篇晶系
  • 1篇光谱
  • 1篇红外
  • 1篇红外光
  • 1篇红外光谱
  • 1篇傅里叶红外光...
  • 1篇干法
  • 1篇高能球磨
  • 1篇TEM研究

机构

  • 5篇浙江工业大学
  • 2篇浙江省质量检...

作者

  • 5篇盛嘉伟
  • 4篇张俭
  • 4篇严俊
  • 3篇方伟
  • 2篇姚程
  • 2篇胡仙超
  • 1篇邵佳明
  • 1篇徐利强

传媒

  • 2篇硅酸盐通报
  • 1篇岩矿测试
  • 1篇无机盐工业
  • 1篇矿物学报

年份

  • 2篇2013
  • 2篇2012
  • 1篇2011
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
浙江青田单斜晶系叶腊石微结构的高分辨透射电镜研究被引量:3
2012年
采用X射线粉晶衍射(XRD)、高分辨透射电镜(HR-TEM)及X射线荧光光谱(XRF)对青田叶腊石的矿物学特征进行了较为系统的研究。结果表明:叶腊石矿物颗粒微结构中最基本的构成单元为纳米板片,且该板片多呈聚集态,单层板片面积大小不一,厚度为(8±2)nm。XRF分析结果表明青田叶腊石原矿混合物中SiO2与Al2O3的分子个数比为6.2,明显高于纯叶腊石中SiO2与Al2O3的分子个数比4.0。HR-TEM对叶腊石晶体结构的研究证实青田叶腊石具有典型的单斜晶系特征,该结论与叶腊石XRD结论一致;且XRD分析结果证实其伴生矿为石英,该结论与XRF所获得的青田叶腊石的"富硅"特征吻合。此外,叶腊石微结构中存在着较明显的晶体缺陷。在高能电子束辐照作用下,叶腊石晶体结构发生明显的破坏,并最终转变为非晶态结构。
严俊姚程方伟张俭盛嘉伟
关键词:叶腊石单斜晶系微结构高分辨透射电镜
叶腊石干法研磨中微结构及物相变化研究被引量:4
2011年
采用场发射扫描电镜、高分辨透射电镜结合X射线能谱、X射线粉晶衍射对叶腊石研磨过程中微结构变化特征进行较系统的研究。结果表明:(1)研磨初期,片层结构叶腊石粉体逐渐微细化,随着研磨强度的增大,粉体颗粒进一步细化并出现团聚;(2)研磨作用使得叶腊石晶体结构发生明显改变,由初期的叶腊石相转变为偏叶腊石相,最终产物为石英和无定形态氧化铝,其中晶态的石英源自叶腊石原矿。
严俊胡仙超邵佳明方伟张俭盛嘉伟
关键词:叶腊石微结构扫描电镜高分辨透射电镜
叶腊石微结构及其晶体结构缺陷的高分辨透射电镜分析被引量:8
2012年
采用场发射扫描电镜(FE-SEM)、高分辨透射电镜(HRTEM)结合选区电子衍射(SAED)、X射线粉晶衍射(XRD)及X射线荧光光谱(XRF)等对浙江青田叶腊石的微结构特征进行较系统的研究。结果表明:①粉晶X射线衍射证实青田叶腊石具有典型的单斜晶系特征,该结论与叶腊石粉体选区电子衍射结果吻合,且其伴生矿为石英。②叶腊石微晶体呈"复式板片"构型,且"复式"板片中薄片厚度约为8±2 nm。③在高能电子束辐照下,叶腊石矿物颗粒形貌及晶格结构发生明显的改变,且由此产生晶格膨胀,并最终形成非晶态。
严俊张俭胡仙超姚程方伟盛嘉伟
关键词:叶腊石微结构扫描电镜高分辨透射电镜选区电子衍射
叶腊石干法研磨过程中偏叶腊石相的HRTEM研究被引量:1
2013年
采用高分辨透射电镜(HRTEM)对叶腊石研磨的中间产物偏叶腊石相进行晶体结构的研究,并就研磨与热处理对叶腊石晶体结构的影响首次进行了傅里叶变换红外(FTIR)光谱的对比。结果表明:(1)干法研磨过程中,叶腊石研磨的中间相为偏叶腊石,且研磨使得叶腊石的晶体结构出现明显的晶格膨胀,其中研磨作用对叶腊石沿其c轴方向的晶体结构的影响较大。(2)研磨或者热处理条件下,叶腊石的FTIR光谱中3673 cm-1处峰形尖锐的羟基伸缩振动峰的强度随着研磨时间或煅烧温度的增大而逐渐降低,并最终消失。该结论表明热与机械力研磨处理对叶腊石晶体结构的破坏具有相似性。
严俊张俭严雪俊方飚徐利强盛嘉伟
关键词:叶腊石高分辨透射电镜傅里叶红外光谱
纳米分散板片及球形叶蜡石粉体的制备及表征
2013年
采用高能球磨、喷雾干燥联用工艺制备了干燥分散的板片与球形叶蜡石粉体,并对所制备的粉体进行了粉晶X射线衍射(XRD)与场发射扫描电镜(FE-SEM)测试。结果表明:叶蜡石粉体在初步研磨后,叶蜡石的晶型与层状结构特征未发生改变。经喷雾干燥可得到分散的单层叶蜡石纳米板片,板片厚度约为(8±2)nm,其在长轴方向上的粒径大小为0.2~1.2μm。粉体在较长时间的研磨后,经喷雾干燥可获得均匀粒径的准球形叶蜡石聚集体,单个聚集体微粒直径约2.5μm,且该聚集体由长径在纳米尺度上的叶蜡石板片团聚而成。此外,XRD测试结果表明喷雾干燥对叶蜡石粉体的晶型并没有明显的影响。
严俊陶金波邓小琼胡丹静刘培钧盛嘉伟
关键词:叶蜡石高能球磨喷雾干燥扫描电镜XRD
共1页<1>
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