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国家自然科学基金(50701010)

作品数:3 被引量:12H指数:1
相关作者:蒋益明李劲俞宏坤孙道明高娟更多>>
相关机构:复旦大学快捷半导体有限公司更多>>
发文基金:国家自然科学基金上海市教育委员会重点学科基金国家科技部专项基金更多>>
相关领域:金属学及工艺电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇金属学及工艺
  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇点蚀
  • 1篇电化学腐蚀
  • 1篇电致发光
  • 1篇电致发光器件
  • 1篇镀层
  • 1篇有机电致发光
  • 1篇有机电致发光...
  • 1篇湿热老化
  • 1篇塑封
  • 1篇塑料封装
  • 1篇热老化
  • 1篇花边
  • 1篇化学腐蚀
  • 1篇铬镀层
  • 1篇功率器件
  • 1篇发光
  • 1篇发光器件
  • 1篇封装
  • 1篇OLED
  • 1篇不锈

机构

  • 3篇复旦大学
  • 1篇快捷半导体有...

作者

  • 3篇蒋益明
  • 2篇俞宏坤
  • 2篇李劲
  • 1篇项秋伟
  • 1篇龚佳
  • 1篇彭雅芳
  • 1篇方强
  • 1篇高娟
  • 1篇孙道明
  • 1篇张积梅
  • 1篇余峰

传媒

  • 2篇复旦学报(自...
  • 1篇郑州大学学报...

年份

  • 2篇2009
  • 1篇2008
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
塑封功率器件在湿热老化试验中分层导致的电化学腐蚀的分析被引量:1
2009年
某种TO252封装形式的塑料封装功率器件在85℃/85 RH条件下湿热老化后发生分层失效,具体过程为环氧塑封料-铜基板界面产生分层裂纹,铜在湿热环境下发生缝隙腐蚀,裂纹不断向封装体内扩展,当分层扩展至Sn-Pb焊料时,发生Cu-Sn63Pb37电偶腐蚀.对分层断面产物的分析表明,铜基板表面存在含铅的腐蚀产物.测定了器件Sn-Cu-Sn63Pb37体系的电化学极化曲线,并对发生电偶腐蚀后的Cu-Sn63Pb37进行了形貌及成分分析,发现SnPb共晶钎料中的富铅相优先发生腐蚀,铅离子发生迁移并在铜的表面沉积.在此基础上提出了湿热老化条件下封装分层导致的电化学腐蚀的机理,与实验现象吻合得很好.湿热老化条件下的电化学腐蚀可以加速分层裂纹的扩展,使塑封器件的预期可靠性寿命下降,在湿热环境下服役的塑封器件的寿命预测中必须将其作为一个考虑的因素.
方强蒋益明李劲邵雪峰俞宏坤
关键词:塑料封装湿热老化电化学腐蚀
OLED电极引线的腐蚀机理分析被引量:1
2008年
有机电致发光器件(OLED)电极引线发生腐蚀是OLED失效的重要原因.用XRD,XPS,SEM和EDX等方法对镀Cr的ITO电极引线样品的腐蚀产物成分、结构和形貌进行了分析,XRD和XPS结果表明镀层Cr反应生成Cr(OH)3和CrO3,SEM和EDX结果表明Cr先腐蚀,ITO随后发生腐蚀.然后通过对引线样品在不同溶液中的极化曲线分析,得知Cr腐蚀产物的价态与其所处的电位有关,且氯离子对ITO腐蚀具有促进作用.最后根据实验结果对电极引线腐蚀的全过程提出一简化模型进行解释.
彭雅芳俞宏坤蒋益明余峰张积梅
关键词:有机电致发光器件铬镀层
不锈钢点蚀花边盖脱落与稳定生长被引量:10
2009年
不锈钢在含Cl-的溶液中常萌生表面呈多孔花边盖状(Lacy cover)蚀孔,在花边盖下的蚀坑内表面隐藏着不断侵蚀,这种有趣的点蚀常加剧材料的失效.采用精细316 ss微电极面积调控形成单一点蚀孔来研究点蚀,获得其点蚀发展的动力学数据,根据Fick扩散定律可知点蚀稳定生长条件为蚀坑内电流密度(i)与深度(a)之积存在一个点蚀稳定范围.并用新的超声电解池证实花边盖对亚稳态点蚀的生长的作用.
孙道明蒋益明高娟项秋伟龚佳李劲
关键词:不锈钢点蚀超声波
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