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国家自然科学基金(60306012)

作品数:6 被引量:21H指数:3
相关作者:石艳玲陈寿面赵宇航朱骏赖宗声更多>>
相关机构:华东师范大学上海集成电路研发中心更多>>
发文基金:国家自然科学基金上海市青年科技启明星计划“上海-应用材料研究与发展”基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 6篇期刊文章
  • 3篇会议论文

领域

  • 8篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇低相位噪声
  • 1篇电感
  • 1篇电感值
  • 1篇电荷
  • 1篇电路
  • 1篇压控
  • 1篇压控振荡器
  • 1篇移相器
  • 1篇英文
  • 1篇噪声
  • 1篇振荡器
  • 1篇射频
  • 1篇锁相
  • 1篇锁相环
  • 1篇片上螺旋电感
  • 1篇品质因子
  • 1篇平面螺旋电感
  • 1篇微机电系统
  • 1篇涡流
  • 1篇涡流效应

机构

  • 6篇华东师范大学
  • 3篇上海集成电路...

作者

  • 6篇石艳玲
  • 3篇朱骏
  • 3篇赵宇航
  • 3篇陈寿面
  • 2篇任铮
  • 2篇赖宗声
  • 2篇丁艳芳
  • 2篇唐深群
  • 1篇卿健
  • 1篇蒋菱
  • 1篇忻佩胜
  • 1篇徐钰
  • 1篇许永生
  • 1篇刘贇
  • 1篇胡少坚
  • 1篇罗天星
  • 1篇朱自强
  • 1篇沈迪
  • 1篇朱荣锦
  • 1篇刘赟

传媒

  • 3篇Journa...
  • 1篇华东师范大学...
  • 1篇微计算机信息
  • 1篇固体电子学研...

年份

  • 1篇2007
  • 3篇2006
  • 2篇2005
  • 3篇2004
6 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
高压集成电路中的HV MOS晶体管BSI M3 I-V模型改进被引量:1
2006年
针对SPICEBSIM3模型在对大量应用于高压集成电路中的轻掺杂漏高压MOS(简称HVMOS)晶体管建模上的不足,提出了基于BSIM3的高压MOS晶体管I V模型改进.研究中使用AgilentICCAP测量系统对HV MOS晶体管进行数据采集,并分析其源漏电阻受栅源、源漏和衬底电压的影响及与标准工艺低压MOS晶体管的差异,针对BSIM3模型源代码中源漏电阻Rds的相关参数算法进行了改进,保留BSIM3v3原有参数的同时增加了Rds的二次栅压调制因子Prwg2和有效Vds参数δ的栅压调制因子δ1,δ2,在开放的SPICE和BSIM3v3源代码上对模型库文件进行修改并实现了优化.仿真结果表明采用改进后的模型,在ICCAP下的测量曲线与参数提取后的I V仿真曲线十分吻合,该模型大大提高了BSIM3I V模型模拟HVMOS晶体管时的精确度,对于高压集成电路的设计与仿真有着极其重要的意义.
任铮石艳玲胡少坚金蒙朱骏陈寿面赵宇航
关键词:BSIM3模型SPICEHVMOS晶体管
Optimization of On-chip Inductor and Its Application in Low-pass Filter
<正>This paper presents the design of on-chip inductor employing Greenhouse theory.The electrical parameter of ...
Yun Liu~1
文献传递
射频分布式MEMS移相器Bragg频率的研究被引量:3
2004年
详细讨论了Bragg频率产生的原因及其分析方法,并依据微波网络理论对不同结构参数MEMS移相器的Bragg频率进行了分析比较。计算结果表明Bragg频率随共平面波导信号线宽度增大、随微桥周期间距增大而降低。对特征阻抗50 Ω、周期间距300μm、中心信号线宽度分别为50μm和100μm的MEMS移相器,Bragg频率相应为38.1 GHz和27.6 GHz;对中心信号线宽度为100μm的移相器,当周期间距增加为567μm时,Bragg频率进一步下降到19.6 GHz.对Bragg频率的研究为分布式MEMS移相器优化设计提供了重要依据。
卿健石艳玲李炜朱自强赖宗声
关键词:微机电系统移相器
Numerical Analysis of Pull-In Voltage in Contact MEMS Switch with Double actuated electrodes
<正>This paper presents the numerical analysis of pull-in voltage for contact MEMS switch with a couple of actu...
Ling Jiang
文献传递
精确高效的渐变结构片上螺旋电感的电感值分析技术被引量:1
2006年
与传统的金属线宽和间距固定不变的无源片上螺旋电感相比,线宽和间距由外圈到内圈渐变的新型结构电感能有效提高电感品质因子.这种新结构电感的出现使得Jenei等人提出的闭合电感公式已不再适用于其电感值的计算,而改进的Wheeler公式计算误差又较大.针对这种情况,文中提出了一种以圈为单位分圈迭代求自感,用整体平均法计算互感的平面螺旋电感的电感值计算方法.该算法分析值与HFSS仿真值相比,误差小于3%,与样品测量值相比,误差小于4%.因此该算法具有计算速度快、精度高的特点,能用于渐变结构片上螺旋电感的高效设计,并可缩短设计周期.
罗天星石艳玲丁艳芳唐深群刘贇王勇朱骏陈寿面赵宇航
关键词:平面螺旋电感
一种射频接收芯片中的低相位噪声压控振荡器被引量:11
2006年
本文介绍了一种适用于ASK幅移键控接收器芯片中锁相环电路,集成于芯片内的LC压控振荡器,它的LC振荡电路采用了一种增强型的特别结构。芯片采用锁相环电路来产生本振信号。接收器通过它工作在290MHz到470MHz的ISM频段。锁相环中的VCO采用了差分对结构的LC压控振荡器结构,在1V到5V的控制电压下能产生290到470的可调频率,输出功率为2.20到2.30dBm。该VCO采用了增强型结构的LC振荡电路以得到更高的Q值来减小相位噪声,采用这种特殊结构,它能在433MHz载波的100kHz偏移范围内实现-99.7dBc/Hz的相位噪声。与普通LC振荡电路结构相比,该结构能使VCO相位噪声减小3dBc以上。且由于该电路由较少的有源器件组成,因此该VCO有着非常低的功耗和成本。
任铮许永生石艳玲赖宗声
关键词:锁相环压控振荡器相位噪声
A low Phase Noise VCO using Enhanced LC Resonator in an Single-Chip ASK Receiver
An enhanced LC resonator has been implemented in a Voltage Controlled Oscillator (VCO) in the PLL(Phase Locked...
Zheng RenYongsheng XuYanling ShiYong WangYonggang Tao
金属线宽及线间距渐变的射频螺旋电感(英文)被引量:4
2005年
为减少射频螺旋电感的金属导体损耗,提出了一种电感金属线宽及金属间距从外到内逐渐变小的新颖结构.与传统的固定金属线宽和间距的电感相比,该渐变结构电感涡流效应的影响较小,金属导体损耗减小,从而降低其串联电阻,品质因子Q值提高.实验结果确证了所提方法的正确性.对一个高阻硅衬底上6nH电感,优化设计的渐变结构电感Q值在2.46GHz处可达到14.25,比版图面积相同、固定线宽及间距的传统电感高11.3%.因此,在无线通信系统的射频前端,采用这种电感与射频集成电路结合,能获得更好的射频电路性能.
王勇石艳玲刘斌贝丁艳芳唐深群朱骏陈寿面赵宇航
关键词:品质因子涡流效应
Si/SiO_2系统电荷对高阻硅基CPW传输损耗的影响被引量:1
2007年
通过高频C-V测试得到实验制备的共平面波导(CPW)下方的Si/SiO2系统电荷主要表现为正电荷,其密度约为4.8×1010/cm2。三种不同衬底上50Ω共平面波导分别为直接制备于高阻硅上、高阻硅氧化层上、去除信号线与地线间的高阻硅氧化层上。20GHz时,测得上述三种CPW的微波传输损耗分别为-0.88dB、-2.50dB及-1.06dB,因此去除线间氧化层使得传输线损耗降低了1.44dB。此外还测试了高阻硅氧化层和除去线间氧化层的高阻硅氧化层上的两种CPW的传输损耗随外加偏压的变化。
徐钰石艳玲沈迪胡红梅忻佩胜朱荣锦刘赟蒋菱
关键词:共平面波导
共1页<1>
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