电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室基金(5130804108) 作品数:4 被引量:41 H指数:2 相关作者: 姚若河 罗宏伟 路香香 魏长河 林继平 更多>> 相关机构: 华南理工大学 信息产业部电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室 更多>> 发文基金: 电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室基金 更多>> 相关领域: 电子电信 动力工程及工程热物理 更多>>
ESD应力下的NMOSFET模型 被引量:8 2007年 随着现代集成电路的集成度越来越高,静电放电(Electrostatic Discharge,ESD)己成为电路失效一个不可忽视的原因。对电路级ESD的可靠性进行模拟是一个重要的研究课题。给出了在ESD应力下的NMOSFET模型,重点讨论了雪崩击穿区、瞬间回落区,以及二次击穿区的物理过程及其数学描述。 路香香 姚若河 罗宏伟关键词:静电保护 NMOSFET 半导体器件 硅太阳能电池的应用研究与进展 被引量:32 2009年 介绍了三代太阳能电池的发展历程和最新研究进展,晶体硅太阳能电池在光伏产业中主要朝高效方向发展,认为廉价、高效多晶硅薄膜太阳能电池,是当前太阳能电池研究的热点,也是未来太阳能电池发展的方向。 黄庆举 林继平 魏长河 姚若河关键词:太阳能电池 晶体硅 光伏产业 ESD应力下的扩散电阻及模型击穿特性 2008年 随着集成电路的尺寸越来越小,其对静电放电(ESD)也变得越来越敏感,而电阻在ESD保护电路中可以起到隔离和分压的作用。对ESD应力下扩散电阻的四个区域:线性区、饱和区、雪崩倍增和负微分电阻区、二次击穿区的模型进行了分析。通过TLP实验对大电流作用下的电阻特性进行验证研究,试验分析了扩散电阻的ESD保护特性;着重讨论了二次击穿区,即热击穿区,的电阻特性,得出电阻的热击穿最先发生在阳极n+-n结,继续加大电压会使阳极-阴极间完全热烧毁的结论。 路香香 罗宏伟 姚若河 林志成关键词:扩散电阻 二次击穿 ESD应力下n阱扩散电阻的潜在损伤 被引量:1 2009年 电阻在静电放电(Electrostatic Discharge,ESD)保护电路中,起隔离和分压的作用。利用传输线脉冲(Transmission Line Pulsing,TLP)测试系统,在宽度为100ns的脉冲作用下,研究了n阱扩散电阻在ESD应力下的工作特性。结果表明,n阱扩散电阻在发生初次瞬态击穿(瞬态击穿电压79.0V,瞬态击穿电流1.97A)后,由于阳极n+-n结构被破坏,内部结构已经出现潜在损伤,不再具备隔离和分压的作用。 石晓峰 罗宏伟 李斌关键词:静电放电