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河南省科技计划项目(112102310534)
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张华桥
贺健
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共振逃逸因子对极光O(^1D)630nm谱线的影响
2013年
为了研究O(1D)630 nm谱线在电离层的辐射传输特性,采用理论分析的方法,计算了该谱线中心的共振逃逸因子,并以此为例介绍了高斯线型逃逸因子的一般计算方法;在计算过程中,通过对电离层中氧原子的原子数密度的分析讨论,计算了不同高度的光学厚度,指出基态原子数密度和光学厚度是影响逃逸因子的两个重要因素。本研究对利用极光探测大气风场具有重要参考意义。
张华桥
张庆国
贺健
赵晓艳
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电离层
光学厚度
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