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浙江省自然科学基金(102018)

作品数:8 被引量:34H指数:4
相关作者:沈为民邵中兴金永兴张艺李卫涛更多>>
相关机构:中国计量学院育英职业技术学院更多>>
发文基金:浙江省自然科学基金更多>>
相关领域:机械工程理学一般工业技术电子电信更多>>

文献类型

  • 8篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 7篇机械工程
  • 7篇理学
  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 8篇晶体
  • 5篇单轴晶体
  • 5篇锥光干涉图
  • 5篇晶体光学
  • 5篇光干涉
  • 5篇光学
  • 5篇干涉图
  • 3篇双轴晶体
  • 3篇偏振
  • 3篇菲涅耳
  • 3篇菲涅耳公式
  • 2篇摄像机
  • 2篇双折射
  • 2篇理论与实验研...
  • 2篇CCD摄像机
  • 1篇折叠
  • 1篇色散
  • 1篇色散方程
  • 1篇图像法
  • 1篇偏振方向

机构

  • 8篇中国计量学院
  • 2篇育英职业技术...
  • 1篇中国计量大学

作者

  • 9篇沈为民
  • 4篇邵中兴
  • 3篇张艺
  • 3篇金永兴
  • 3篇李卫涛
  • 1篇王育红
  • 1篇徐江峰
  • 1篇方涛
  • 1篇李群

传媒

  • 1篇物理学报
  • 1篇光电子技术与...
  • 1篇浙江大学学报...
  • 1篇计量学报
  • 1篇光学学报
  • 1篇大学物理
  • 1篇半导体光电
  • 1篇光学仪器

年份

  • 1篇2007
  • 1篇2006
  • 5篇2005
  • 1篇2004
  • 1篇2003
8 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
双轴晶体会聚偏光干涉的理论与实验研究被引量:5
2005年
晶体会聚偏光干涉图包含了晶体特性的许多信息,建立偏光干涉图的定量分析方法可以使这些信息得到充分利用。基于双轴晶体折射时满足的波矢关系,导出了两折射光波相位差的精确计算公式。分析了光波在各界面折射时偏振态的变化,提出了会聚偏光干涉合成振幅的计算方法。针对任意取向的双轴晶体,计算了完整的偏光干涉图,反映了相位分布决定等色线、振幅分布决定消光影的规律。用数字图像模似了干涉图,并讨论了干涉图的变化情况。对4块不同取向的KTP晶片进行实验,实验干涉图与理论干涉图的特征完全一致,两者仔细对比可判断现有KTP晶体色散方程的优劣。
沈为民张艺金永兴邵中兴李卫涛
关键词:晶体光学双轴晶体偏振色散方程
光轴任意取向时晶体锥光干涉图的精确计算
晶体的锥光干涉是测量晶体各种特性参数的常用方法,但由于缺少对锥光干涉图的精确计算方法使测量范围和精度受到了限制。本文根据电磁场的边值关系,导出了不同于菲涅耳公式的晶体界面光振幅的关系,提出了晶体锥光干涉中两相干光的位相差...
沈为民
关键词:晶体光学锥光干涉图菲涅耳公式单轴晶体
文献传递
光在双轴晶体表面的反射与折射被引量:12
2003年
介绍了光在双轴晶体表面反射、折射问题的求解方法 .用该方法可以方便精确地计算晶体任意取向下光从任意方向入射时折射光的折射率、偏振态、波矢方向、能流方向 .推导了反射光、折射光的振幅和能量的计算公式 .并以KTP晶体为例 ,给出了数值计算的结果 .
沈为民金永兴邵中兴
关键词:双轴晶体双折射菲涅耳公式偏振方向
折叠腔内倍频效率的实验研究被引量:1
2005年
报道了一台治疗色素性皮肤病变的激光器,介绍了他们的工作特性,同时分析了影响腔内倍频效率的因素。
金永兴沈为民徐江峰邵中兴
关键词:长脉冲激光治疗
大光轴倾角的偏光干涉测量方法被引量:3
2007年
针对偏光干涉法测量晶体光轴倾角存在精度低、范围小的缺点,提出了用相对光轴出露点的条纹数而不是距离来决定光轴倾角。将条纹数分为整数部分和小数部分,用非线性插值方法求解小数部分,用主截面内干涉条纹的相对位置决定整数部分。对6块铌酸锂晶体在不同单色光源、不同数值孔径下进行测量,结果相当一致。实验表明,光轴倾角的测量范围可有效拓宽,而测量误差可减小到0.1°。
沈为民李卫涛王育红方涛
关键词:计量学单轴晶体锥光干涉图
双轴晶体二次谐波产生中的光束离散被引量:1
2005年
分析不同条件下二次谐波产生中的光束离散对于提高转换效率和光束质量都十分重要。通过建立求解双轴晶体中双折射问题的数值分析模型,可以精确计算晶体主轴任意取向下光从任意方向入射时折射光的折射率、偏振态、波矢方向及能流方向等。详细讨论了正入射和斜入射、Ⅰ类相位匹配和Ⅱ类相位匹配下KTP晶体和LBO晶体中的光束离散问题。
张艺沈为民
关键词:双轴晶体双折射非线性二次谐波产生
光轴平行晶体表面时的锥光干涉图被引量:11
2005年
针对光轴平行晶体表面时的锥光干涉图,提出了计算干涉场中振幅和相位分布的方法,据此绘制完整的干涉图,方便地显示出晶体参数改变时锥光干涉图的变化规律.用CCD摄像机拍摄了铌酸锂晶体的锥光干涉图,结果与理论完全一致.
沈为民
关键词:晶体光学锥光干涉图单轴晶体CCD摄像机
CCD图像法测量晶体光轴方向被引量:1
2006年
提出了用CCD摄像机采集晶体锥光干涉图来快速精确测量晶体的光轴方向的方法。转动晶片使光轴的出露点形成圆形轨迹,通过最小二乘法对多个测试点拟合得到圆半径和圆心坐标。利用光轴垂直表面的晶片的锥光干涉图来确定数字图像中的距离与光线入射角的关系,使定标误差减小约一个数量级。分析了系统测量误差,提出了为保证测量精度需要采取的措施。对多片不同光轴取向的铌酸锂晶体进行了测量,误差小于0.1°。
沈为民李卫涛李群邵中兴
关键词:晶体光学锥光干涉图单轴晶体CCD摄像机
单轴晶体锥光干涉的理论与实验研究被引量:10
2005年
根据电磁场的边值关系,导出了不同于菲涅耳公式的晶体界面光振幅的关系,提出了晶体锥光干涉中两相干光的位相差和振幅的计算方法.计算结果用数字图像表示,能够直观地显示出晶体锥光干涉图的特征.对不同取向的铌酸锂晶片进行实验,实验干涉图与理论干涉图的特征完全一致.
张艺沈为民
关键词:晶体光学锥光干涉图菲涅耳公式单轴晶体偏振
共1页<1>
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