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国家重点基础研究发展计划(G20000365)

作品数:41 被引量:98H指数:5
相关作者:林成鲁陈诺夫门传玲谢欣云杨少延更多>>
相关机构:中国科学院北京大学中国科学院微电子研究所更多>>
发文基金:国家重点基础研究发展计划国家自然科学基金国家攀登计划更多>>
相关领域:电子电信理学自动化与计算机技术航空宇航科学技术更多>>

文献类型

  • 41篇期刊文章
  • 4篇会议论文

领域

  • 36篇电子电信
  • 5篇自动化与计算...
  • 5篇理学
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 9篇导体
  • 9篇半导体
  • 6篇铁磁
  • 6篇铁磁性
  • 6篇SOI
  • 5篇离子注入
  • 5篇磁性半导体
  • 4篇栅介质
  • 4篇HFO
  • 4篇磁性
  • 3篇低能离子
  • 3篇低能离子束
  • 3篇电路
  • 3篇电学
  • 3篇射线衍射
  • 3篇稀磁半导体
  • 3篇离子束
  • 3篇击穿电压
  • 3篇集成电路
  • 3篇高K栅介质

机构

  • 28篇中国科学院
  • 8篇北京大学
  • 7篇中国科学院微...
  • 4篇中国科学院力...
  • 3篇同济大学
  • 1篇河北理工大学
  • 1篇上海理工大学
  • 1篇天津大学
  • 1篇中国科学院上...

作者

  • 14篇林成鲁
  • 13篇陈诺夫
  • 9篇刘志凯
  • 9篇杨少延
  • 8篇尹志岗
  • 8篇门传玲
  • 7篇谢欣云
  • 7篇欧文
  • 6篇宋书林
  • 6篇林青
  • 6篇韩汝琦
  • 5篇林兰英
  • 5篇柴春林
  • 5篇康晋锋
  • 5篇张苗
  • 4篇韩德栋
  • 4篇李艳丽
  • 4篇钱鹤
  • 4篇刘力锋
  • 4篇刘卫丽

传媒

  • 16篇Journa...
  • 6篇功能材料
  • 5篇功能材料与器...
  • 2篇科学通报
  • 2篇物理
  • 2篇固体电子学研...
  • 1篇物理学报
  • 1篇空间科学学报
  • 1篇电子学报
  • 1篇核技术
  • 1篇同济大学学报...
  • 1篇微电子学
  • 1篇压电与声光
  • 1篇微纳电子技术

年份

  • 2篇2006
  • 2篇2005
  • 19篇2004
  • 9篇2003
  • 8篇2002
  • 5篇2001
41 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
闪速存储器的单管多位技术被引量:1
2004年
 为了在现有条件下进一步降低闪速存储器的单位成本,已开发了各种单管多位技术。文章着重介绍了基于浮栅结构的MLC技术和基于SONOS的单管多位技术。
李多力欧文
关键词:闪速存储器SONOS
SCDI Flash Memory Device Ⅰ: Simulation and Analysis
2004年
Step channel direct injection(SCDI)flash memory device which had been developed changes the hot carrier injection method by making a shallow step in the middle of channel .Therefore high speed for programming,high efficiency for injection,and lower working voltage are obtained.Simulation and analysis for the proposed SCDI structure device are done and an optimization scheme to improve the utmost performance of SCDI device is given...
欧文钱鹤
关键词:OPTIMIZATION
A Novel Non-Planar Cell Structure for Flash Memory
2002年
Proposed herein is a novel non planar cell structure for flash memory which has been fabricated to achieve high programming speed with low operating voltage.This memory cell preserves a simple stacked gate structure which only requires an additional masking step to form the novel structure in the channel.For the cell of the 1 2μm gate length,the programming speed of 43μs under the measuring condition of V g=15V, V d=5V,and the erasing time of 24ms under V g=-5V, V s=8V are obtained.The programming speed is faster than that of the conventional planar cell structure.This superior programming speed makes it suitable for high speed application.
欧文李明钱鹤
热退火γ-Al_2O_3/Si异质结构薄膜质量改进被引量:3
2002年
采用高真空 MOCVD外延技术 ,利用 TMA( Al( CH3) 3)和 O2 作为反应源 ,在 Si( 10 0 )衬底上外延生长γ-Al2 O3 绝缘膜形成 γ-Al2 O3/ Si异质结构材料 .同时 ,引入外延后退火工艺以便改善 γ-Al2 O3 薄膜的晶体质量及电学性能 .测试结果表明 ,通过在 O2 常压下的退火工艺可以有效地消除γ-Al2 O3 外延层的残余热应力及孪晶缺陷 ,改善外延层的晶体质量 ,同时可以提高 MOS电容的抗击穿能力 。
谭利文王俊王启元郁元桓刘忠立邓惠芳王建华林兰英
关键词:热退火SOIMOCVD
Flash器件中氧化硅/氮化硅/氧化硅的特性
2003年
对普遍采用的氧化硅 /氮化硅 /氧化硅 ( ONO)三层复合结构介质层的制备工艺及特性进行了研究分析 ,研究了 ONO的漏电特性以及顶氧 ( top oxide)和底氧 ( bottom oxide)的厚度对 ONO层漏电的影响 .结果表明 ,采用较薄的底氧和较厚的顶氧 ,既能保证较高的临界电场强度 ,又能获得较薄的等效氧化层厚度 ,提高耦合率 ,降低编程电压 .
欧文李明钱鹤
关键词:快闪存储器F1ASH漏电
CF_4预处理后热生长薄栅氧漏电流及势垒研究
2005年
嵌入式FlashMemory要求低的工作电压.采用反应离子刻蚀技术,用CF4气体在低功率下对硅片做预处理,再热生长薄氧化层,从而在氧化层中引入F,降低氧化层势垒:势垒高度从3.05eV降低到2.5eV,隧穿电流增加,从而可以在低压下提高FlashMemory的编程效率.
刘倜欧文
关键词:FLASHMEMORY漏电流
多孔硅外延转移技术制备以氮化硅为绝缘埋层的SOI新结构被引量:6
2003年
为减少自加热效应 ,利用多孔硅外延转移技术成功地制备出一种以氮化硅为埋层的 SOI新结构 .高分辨率透射电镜和扩展电阻测试结果表明得到的 SOI新结构具有很好的结构和电学性能 ,退火后的氮化硅埋层为非晶结构 .
谢欣云刘卫丽门传玲林青沈勤我林成鲁
关键词:绝缘埋层氮化硅薄膜SOI结构
室温铁磁性半导体MnxGa(1-x)Sb被引量:3
2002年
采用离子注入、离子淀积及后期退火方法制各了稀磁半导体单晶MnxGa1-xSb,在室温下(300 K)获得了单晶的磁滞回线.用X射线衍射方法分析了铁磁性半导体单晶MnxGa1-xSb的结构,用电化学C-V法分析了单晶的载流子浓度分布.由X射线衍射得知,MnxGa1-xSb中Mn含量逐渐由近表面处的x=0.09下降到晶片内部的x=0.电化学C-V测得单晶的空穴浓度高达1×1021cm-3,表明MnxGa1-xSb单晶中大部分Mn原子占据Ga位,起受主作用.
陈诺夫张富强杨君玲刘志凯杨少延柴春林王占国胡文瑞林兰英
关键词:铁磁性稀磁半导体磁滞回线晶体结构载流子浓度
平行平面穿通结击穿电压的计算及比较被引量:3
2001年
本文研究平行平面穿通结击穿电压的计算 .首先根据电离率积分方程得出以归一化外延层厚度为变量的穿通结击穿电压拟合表达式 ,然后以此为基础 ,比较了另两种解析方法计算穿通结击穿电压的结果 .分析表明 :校正临界电场法可给出与电离率积分模式一致的击穿电压 ,而经典临界电场法将导致较大的误差 .
何进张兴黄如王阳元
关键词:击穿电压微电子
N^+、O^+共注入形成SOI绝缘埋层的计算机模拟
2003年
将不同能量和注量的N+和O+离子依次注入于<100>硅片并高温退火,形成具有SiO2/SiOxNy/Si3N4埋层的SOI结构。本文使用在TRIM的基础上发展起来的IRIS模拟程序,并对IRIS模型进行了改进,对N+、O+离子共注入形成的SIMON结构进行了计算机模拟,并与实验制作的样品所做截面透射电镜(TEM)测试结果进行了比较,发现模拟结果与实验所得数据吻合。
林青刘相华朱鸣谢欣云林成鲁
关键词:氧离子离子注入硅片计算机模拟
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